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龙图腾网获悉无锡摩芯半导体有限公司申请的专利一种用于SRAM的Online Non Destructive Test的设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120431988B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510580152.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种用于SRAM的Online Non Destructive Test的设计方法是由殷富强设计研发完成，并于2025-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于SRAM的Online Non Destructive Test的设计方法在说明书摘要公布了：本发明涉及SRAM故障检测技术领域，且公开了一种用于SRAM的OnlineNonDestructiveTest的设计方法，将CPU通过APB总线配置NDT控制器并读取信息，同时，CPU或其他Master通过AXI经过Arbit后访问SRAM；NDT控制器完成对SRAM空间的Online测试；Arbit模块完成AXI对SRAM的访问和NDT控制器对SRAM的访问的仲裁。用于SRAM的OnlineNonDestructiveTest的设计方法可灵活执行OnlineNDT测试，模式可配置，支持利用AXI总线访问SRAM的空隙进行测试，完全不影响性能，如果AXI总线访问SRAM密集，支持强制占用部分带宽完成OnlineNDT测试，同时支持定期自动OnlineNDT。整个方案完全不会影响系统事务对SRAM的访问，支持自动定期测试，实现在线、实时、自动的SRAM非破坏性测试，满足车规功能安全需求。

本发明授权一种用于SRAM的Online Non Destructive Test的设计方法在权利要求书中公布了：1.一种用于SRAM的OnlineNonDestructiveTest的设计方法，其特征在于： CPU通过APB总线配置NDT控制器并读取信息，同时，CPU或其他Master通过AXI经过Arbit后访问SRAM； NDT控制器完成对SRAM空间的Online测试； Arbit模块完成AXI对SRAM的访问和NDT控制器对SRAM的访问的仲裁； 所述NDT控制器支持三种模式： 1单地址NDT模式； 2地址区间范围NDT模式； 3周期性地址区间范围NDT模式； 所述单地址NDT模式的工作机制如下： CPU把所需测试的地址x配置到NDT控制器，启动测试，测试步骤如下： S1、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器则通过Arbit从SRAM中读取地址x的数据，将该数据寄存到NDT控制器内； S2、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器将该数据取反后写入SRAM的地址x内，再次读出后与原数据作比较，并记录测试结果； S3、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器写数据全0到SRAM的地址x内，再次读出后作比较，并记录测试结果； S4、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器写数据全1到SRAM的地址x内，再次读出后作比较，并记录测试结果； S5、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器写数据0x5555该数据取决于SRAM数据宽度到SRAM的地址x内，再次读出后作比较，并记录测试结果； S6、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器写数据0xAAAA该数据取决于SRAM数据宽度到SRAM的地址x内，再次读出后作比较，并记录测试结果； S7、向Arbit发出访问请求，如果Arbit未应答，则等待；否则，NDT控制器写入原数据到SRAM的地址x内，NDT控制器测试完毕标志置位。

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