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龙图腾网获悉宁波激智科技股份有限公司申请的专利用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827250B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411989046.0，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法是由李刚;张彦;缪锴;王灵杰;冯读超;高斌基;唐海江设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法，涉及光学膜技术领域。本发明用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法包括：先将待测光学膜样品的微结构面覆上一层透明的PET保护膜，然后使用锋利的刀片对覆保后的光学膜进行切割，快速得到具有清晰完整的断面微结构形貌的样品。与传统金相制样方法相比，本申请通过利用透明PET保护膜对待测光学膜样品的微结构面进行制样，有效地缩短了制样时间，提升了作业和分析效率，缓解了现有金相分析中制样过程繁琐、耗时等问题，具有制样效率快、断面质量高的特点。

本发明授权用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法在权利要求书中公布了：1.一种用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法，其特征在于，所述制样方法包括： S1：提供待测光学膜样品和PET保护膜； S2：将PET保护膜的离型层揭除，随后将PET保护膜的胶层面与待测光学膜样品具有微结构形貌面的一面贴合，得到覆膜待测样品； 所述PET保护膜包括依次设置的透明保护膜层、胶层和离型层； 所述PET保护膜的透明保护膜层的透过率＞89%，且雾度＜2%，所述PET保护膜对被贴测试样品的粘着力为3~25gf25mm； S3：显微观测确认覆膜待测样品上微结构的延伸方向，沿微结构的延伸方向裁切得到光学膜样条； S4：将光学膜样条贴覆到切割垫板上固定，随后在光学膜样条的上方固定两个L型的固定支架；调整其中一个L型支架位置，将刀片与膜片的角度调整至90°，使用1kg砝码在刀片的正上方约5~10cm处自上而下快速砸下，刀片砸下的加速度为2.5-5cms2，得到切割后的光学膜样条； 所述刀片位于两个L型支架之间，以实现采用两个支架调整刀片角度的作用； 所述切割时，透明保护膜层设置于待测光学膜样品下方； S5：剥离透明保护膜层，得到具有断面微结构的光学膜样条。

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