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上海航天电子通讯设备研究所龚晶晶获国家专利权

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龙图腾网获悉上海航天电子通讯设备研究所申请的专利航天电子产品热循环试验防凝露的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116593801B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310505392.6,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权航天电子产品热循环试验防凝露的方法是由龚晶晶;陈臻科;陈江巍;肖西钢;薛玲珑;方刚;李波设计研发完成,并于2023-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

航天电子产品热循环试验防凝露的方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种航天电子产品热循环试验防凝露的方法,用于航天电子产品热循环试验。内容包括:设计热循环试验防凝露方法的控制流程,给出流程中参数的获取方法和干燥空气或氮气的控制算法;步骤包括:在产品低温升高温的过程中,先获取产品表面温度和箱内循环空气的露点温度,然后将两者偏差值与安全裕度比较,按照控制算法控制干燥空气或氮气通断和调节干燥空气或氮气的充气速率,使产品表面温度与露点温度之间始终保持可靠的安全裕度,直至产品升温结束。

本发明授权航天电子产品热循环试验防凝露的方法在权利要求书中公布了:1.一种航天电子产品热循环试验防凝露的方法,用于航天电子产品热循环试验,其特征在于空气或氮气,包括: 设置干燥空气或氮气的露点温度低于产品试验条件中的低温极限温度,最大通气速率匹配试验箱防凝露的需求; 利用航天电子产品表面的控温传感器测量获得航天电子产品表面温度Tp,利用露点仪测量或露点温度查算相图获得箱内循环气体的露点温度Td; 采用风口温度变化值与航天电子产品表面温度变化值的偏差,近似拟合产品表面温度Tp与露点温度Td之间第一偏差的安全裕度; 计算当前时刻的航天电子产品表面温度与露点温度之间的第二偏差,并将所述第二偏差与安全裕度进行比较,判断是否存在航天电子产品表面凝露风险, 若存在凝露风险,则控制干燥空气或氮气的通断和控制调节干燥空气或氮气的充气速率,从而降低箱内循环气体的露点温度; 采用风口温度变化值与航天电子产品表面温度变化值的偏差,近似拟合产品表面温度Tp与露点温度Td之间第一偏差的安全裕度,包括:根据式1得到安全裕度: C=va-vp×Vvdmax1 式中,C为安全裕度;va为风口温度变化速率;vp为产品表面温度变化速率;V为试验箱气体容积,包含风道和样品区;vdmax为干燥空气或氮气的充气速率最大值,按vdmax充入气体应不会造成试验箱温度波动。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海航天电子通讯设备研究所,其通讯地址为:201109 上海市闵行区中春路1777号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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