国际商业机器公司E·莱奥班顿获国家专利权
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龙图腾网获悉国际商业机器公司申请的专利晶片检验和验证获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116508059B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180078316.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权晶片检验和验证是由E·莱奥班顿设计研发完成，并于2021-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶片检验和验证在说明书摘要公布了：一种方法包括获得第一晶片的第一参考图像。该方法包括获得处于制造状态的第一晶片的第一图像。第一晶片具有第一验证结构。该方法包括当该第一晶片处于该制造状态时，获得第一物理测量。第一物理测量对应于第一验证结构。该方法包括确定第一图像与第一参考图像匹配。方法包括获得对应于处于制造后状态的所接收的晶片的验证结构的电参数测量。该方法包括基于电参数测量来计算物理参数值。该方法包括通过将物理参数值与第一物理测量进行比较来生成验证响应。
本发明授权晶片检验和验证在权利要求书中公布了：1.一种计算机实现的方法，包括： 获得第一晶片的第一参考图像； 获得处于制造状态的所述第一晶片的第一图像， 其中，在所述制造状态中，所述第一晶片具有小于阈值数量的数量的制造层； 其中，所述第一晶片具有第一验证结构； 当所述第一晶片处于所述制造状态时，获得与所述第一验证结构相对应的第一物理测量； 在第一时间，通过比较所述第一图像与所述第一参考图像来确定所述第一图像与所述第一参考图像匹配； 在所述第一时间之后的第二时间，获得与处于制造后状态的所接收的晶片的验证结构对应的电参数测量； 其中，在所述制造后状态中，所接收的晶片具有等于所述阈值数量的第二数量的制造层； 基于所述电参数测量，计算物理参数值；以及 通过比较所述物理参数值与所述第一物理测量，生成验证响应。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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