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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117150424B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310760555.5，技术领域涉及：G06F18/25；该发明授权基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法是由戴伟;李亚洲设计研发完成，并于2023-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法在说明书摘要公布了：基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法，包括：步骤一收集实际制造过程中受控过程的部分数据，利用蒙特卡洛方法生成8种模式的异常控制图模式CCP；步骤二对于给定长度的CCP观测数据，根据特定参数组合将其重构为符号相空间；步骤三根据嵌入维度参数获得所有的有序模式类型，计算所识别CCP的有序模式特征；步骤四生成加权有序模式WOP特征，计算所识别CCP的幅值特征，对步骤三中的有序模式特征加权，得到WOP特征；步骤五改变时延参数大小，得到不同时延参数对应的WOP，构建与时延参数数量相同的同质分类器，进行个体分类器分类；步骤六：基于民主投票方法，对步骤五中的多个分类器的识别结果进行投票，得到所识别CCP的综合诊断结果。

本发明授权基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法在权利要求书中公布了：1.一种基于加权有序模式及集成分类器的控制图模式识别方法，其特征在于包括以下步骤： 步骤一：数据采集与数据生成：收集实际制造过程中受控过程的部分数据，根据该部分数据，利用蒙特卡洛方法生成8种模式的CCP； 步骤二：构造符号相空间：对于给定长度的CCP观测数据，根据参数组合将其重构为符号相空间； 步骤三：提取有序模式特征：根据嵌入维度参数获得所有的有序模式类型，并计算所识别CCP观测数据的有序模式特征； 步骤四：生成WOP特征：计算所识别CCP观测数据的幅值特征，并对步骤三中的有序模式特征加权，得到WOP特征； 步骤五：生成基于多时延的WOP特征与通过集成分类器方法集成：通过改变时延参数大小，得到不同时延参数对应的WOP，并构建与时延参数数量相同的同质分类器，进行个体分类器分类； 步骤六：基于民主投票的综合诊断：利用基于民主投票方法，对步骤五中的多个分类器的识别结果进行投票，最终得到所识别CCP的综合诊断结果; 步骤一中所述的实际制造过程，包括机加过程、装配过程、磨合过程； 在步骤一中所述的8种模式的CCP，包括与NOR模式、CYC模式、UT模式、DT模式、US模式、DS模式、STR模式与SYS模式对应的CCP，其中NOR模式表示过程仅受随机干扰的影响，处于受控状态，其余7种模式为异常模式及制造过程处于非受控状态。

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