美国亚德诺半导体公司P·楚获国家专利权
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龙图腾网获悉美国亚德诺半导体公司申请的专利使用三维飞行时间成像的Z平面识别和盒子尺寸确定获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116547559B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180077936.2,技术领域涉及:G01S17/42;该发明授权使用三维飞行时间成像的Z平面识别和盒子尺寸确定是由P·楚;T·C·安扎迈安;J·D·金;C·麦瑟;S·迪米尔达斯设计研发完成,并于2021-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本使用三维飞行时间成像的Z平面识别和盒子尺寸确定在说明书摘要公布了:提供了一种获得并处理在任意方向上获得的飞行时间数据TOF的传感器系统。TOF传感器获得描述各种表面的距离数据。处理器识别环境中的水平Z平面,并转换数据以与Z平面对齐。在一些实施例中,环境包括盒子,并且处理器在变换的数据中识别盒子的底部和顶部。处理器可以进一步确定盒子的尺寸,例如,盒子顶部和底部之间的高度,以及盒子顶部的长度和宽度。
本发明授权使用三维飞行时间成像的Z平面识别和盒子尺寸确定在权利要求书中公布了:1.一种用于识别Z平面的方法,该方法包括: 接收距离数据,所述距离数据描述捕获所述距离数据的传感器与所述传感器的环境中的多个表面之间的距离,其中所述多个表面中的至少一个是Z平面,并且其中Z平面是现实世界环境中的与特定环境中的地面平行的平面; 基于所述距离数据生成点云,所述点云在所述传感器的参考帧中; 识别表示跨所述点云的峰值方向的基向量,包括对所述点云中的点的表面法线的坐标进行装仓,其中峰值方向是所述点云中的点的表面法线的装仓坐标的直方图中的峰值; 将所述点云变换为所述基向量的参考帧;和 在变换的点云中识别Z平面。
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