合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司冯伟获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司申请的专利一种测试电路、阵列基板及显示装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116543671B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310646451.1，技术领域涉及：G09G3/00；该发明授权一种测试电路、阵列基板及显示装置是由冯伟设计研发完成，并于2023-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试电路、阵列基板及显示装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种测试电路、阵列基板及显示装置，测试电路包括：第一TFT开关及沿第一方向相邻排布的第一焊盘、第二焊盘；所述第一焊盘，被配置为在获得第一测试信号且所述第一TFT开关导通的情况下，将所述第一测试信号导入GOA电路进行测试；所述第二焊盘，被配置为在获得控制信号的情况下，利用所述控制信号使所述第一TFT开关导通；其中，所述控制信号与所述第一测试信号的逻辑电平相反。本申请实施例利用第二焊盘控制第一TFT开关决定是否执行GOA测试，而相邻的第一焊盘与第二焊盘导入的信号电平相反，可以在外部的测试触针位置偏移误触的情况下断开第一TFT开关，避免异常电荷流入GOA电路，提高GOA电路的电学功能的可靠性。
本发明授权一种测试电路、阵列基板及显示装置在权利要求书中公布了：1.一种测试电路，其特征在于，包括：第一TFT开关及沿第一方向相邻排布的第一焊盘、第二焊盘； 所述第一焊盘，被配置为在获得第一测试信号且所述第一TFT开关导通的情况下，将所述第一测试信号导入GOA电路，对所述GOA电路进行测试； 所述第二焊盘，被配置为在获得控制信号的情况下，利用所述控制信号使所述第一TFT开关导通，以及在未获得控制信号的情况下，使所述第一TFT开关断开； 其中，所述控制信号与所述第一测试信号的逻辑电平相反；沿所述第一方向，所述第一焊盘与所述第二焊盘的宽度相同，以在样品和与所述第一焊盘接触的外部测试触针位置发生偏移的情况下，与所述控制信号的逻辑电平相反的所述第一测试信号给入到所述第二焊盘，使所述第二焊盘处于令所述第一TFT开关关闭的电位，避免异常电荷流入GOA电路。
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