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龙图腾网获悉北京君正集成电路股份有限公司申请的专利一种编码单元强制划分的判决方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116233425B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111480707.3，技术领域涉及：H04N19/122；该发明授权一种编码单元强制划分的判决方法是由张立兰设计研发完成，并于2021-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种编码单元强制划分的判决方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种编码单元强制划分的判决方法，所述方法通过对预测残差数据特性进行分析，使用四叉树，识别编码单元CU预测后的残差数据在4个子块经哈达玛变换后的高频系数的细节丰富度一致性程度，来判断当前的CU块大小是否会引起细节丢失或细节扩散现象，对于残差数据复杂即四叉树划分子块细节丰富度不一致的CU作强制划分，并对过划分进行修正。本方法对通过率失真优化进行CU判决起到一个补充修正的作用，对细节丢失和细节扩散现象有明显的改善效果。

本发明授权一种编码单元强制划分的判决方法在权利要求书中公布了：1.一种编码单元强制划分的判决方法，其特征在于，所述方法通过对预测残差数据特性进行分析，识别编码单元CU预测后的残差数据在4个子块经哈达玛变换后的高频系数的细节丰富度一致性程度，来判断当前的CU块大小是否会引起细节丢失或细节扩散现象，对于残差数据复杂即四叉树划分子块细节丰富度不一致的CU作强制划分，并对过划分进行修正；所述方法包括以下步骤： S1，残差特性分析和特征值计算： 对编码单元CU预测后得到的残差数据resi进行四叉树划分，分别对4个子块作哈达玛变换，得到变换系数satd_coef[sub_resi_idx][N*N]；并计算各子块变换后的高频系数的绝对误差和sad、最大最小高频系数偏差diff、高频系数平均值avg； 再进一步计算4个子块的sad的波动值sad_sad、最大最小偏差的波动值diff_sad，平均值的波动值avg_sad，其中，N表示残差子块的宽高值，sub_resi_idx表示残差子块的索引值； S2，对残差子块细节丰富度不一致的子块作CU强制划分，否则通过率失真优化判决： 设定阈值： sad_sad_thrd＝12； diff_sad_thrd＝15； avg_sad_thrd＝10； 将步骤S1中分析得到的特征值结果与设定阈值进行比较，获取4个子块的各特征值波动一致性标记： flagsad＝sad_sad＜sad_sad_thrd flagdiff＝diff_sad＜diff_sad_thrd flagavg＝avg_sadavg_sad_thrd 根据上面条件判断当前块的4个子块是否为残差细节丰富程度一致的块；若残差特征值都在给定阈值内，则认为残差数据的高频信息一致性高，不需要作强制划分；反之则需要强制划分； CU强制划分标志split_flag可由下面公式得到： split_flag＝～flagsadamp;amp;flagdiffamp;amp;flagavg； S3，对于步骤S2引起的过划分的修正： 对于原图像raw[sub_idx][N*N]中内容复杂且满足步骤S2中的强制分割条件split_flag的CU块，不会引起细节扩散和细节丢失易察觉现象，需对split_flag做一个修正，即当内容复杂块flagcplx成立时不做强制分割，将split_flag置0。

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