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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利一种试验平台及试验平台的使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115684224B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110852762.4，技术领域涉及：G01N23/20008；该发明授权一种试验平台及试验平台的使用方法是由陈雨;高振华;储胜启;张贵凯;殷子;尹春霞;张静设计研发完成，并于2021-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种试验平台及试验平台的使用方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种试验平台及试验平台的使用方法。试验平台包括样品承载机构、X射线光源、第一信号采集机构和第二探测器。样品承载机构用于承载待测试样品；X射线光源用于射出入射X射线；第一信号采集机构包括第一探测器，X射线光源、样品承载机构以及第一探测器在水平面上的投影沿第一方向依次设置，第一探测器用于接收待测试样品产生的X射线衍射信号；第二探测器用于接收从待测试样品产生的X射线荧光信号。本发明提供的试验平台能够在利用X射线光源射出的入射X射线同时得到样品同一区域的近邻原子结构和长程有序结构信息，从而从本质上揭示材料表层的原子结构、晶体结构演变过程对组织性能影响机理。

本发明授权一种试验平台及试验平台的使用方法在权利要求书中公布了：1.一种试验平台，其特征在于，包括： 样品承载机构1，用于承载待测试样品10； X射线光源4，用于射出入射X射线7，所述入射X射线7能够射入所述待测试样品10； 第一信号采集机构2，包括第一探测器21，所述X射线光源4、所述样品承载机构1以及所述第一探测器21在水平面上的投影沿第一方向依次设置，所述第一探测器21用于接收所述待测试样品10产生的X射线衍射信号； 第二探测器3，与所述样品承载机构1沿第二方向设置，所述第一方向与所述第二方向呈夹角，所述第二探测器3用于接收从所述待测试样品10产生的X射线荧光信号； 所述试验平台还包括支撑机构5，所述支撑机构5包括： 机架51，所述样品承载机构1、第一信号采集机构2和所述第二探测器3均设置于所述机架51上； 三维调节台52，所述机架51设置于所述三维调节台52上，所述三维调节台52用于在所述第一方向和竖直方向上调节所述机架51的位置，以及驱动所述机架51绕竖直方向旋转。

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