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龙图腾网获悉南京威派视半导体技术有限公司申请的专利一种图像传感器坏列检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115623188B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210996510.3，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权一种图像传感器坏列检测方法是由陈烨设计研发完成，并于2022-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种图像传感器坏列检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种图像传感器坏列检测方法，包括以下步骤：步骤一：计算图像的平均值imgMean；步骤二：计算图像的列均值colMeans和列标准差ColStds；步骤三：选取图像的任意一列作为参考列，计算参考列标准差refStd；步骤四：根据步骤一中计算得到的图像平均值imgMean，对图像中的每一列单独计算与所述参考列的相似值，所述相似值的数值越大，则相似度越低；步骤五：遍历图像的所有列，按照步骤四计算出所有列与参考列的相似值，本发明的有益效果：结合图像本身的绝对灰度均值，不同的绝对灰度均值，对应不同的坏列判断阈值，选取图像中某一固定列作为参考列，结合均值和标准差两个阈值因子，能够准确高效检测出图像存在的坏列，漏检和误检率较低。

本发明授权一种图像传感器坏列检测方法在权利要求书中公布了：1.一种图像传感器坏列检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一：计算图像的平均值imgMean； 步骤二：计算图像的列均值colMeans和列标准差ColStds； 步骤三：选取图像的任意一列作为参考列，计算参考列标准差refStd； 步骤四：根据步骤一中计算得到的图像平均值imgMean，对图像中的每一列单独计算与所述参考列的相似值，所述相似值的数值越大，则相似度越低； 在步骤四中，当图像的平均值imgMean的数值大于350时，针对图像的每一列，T的表达式如下：T=1-colMeansimgMean，其中T0取其绝对值，colMeans为每一列的列均值，同时计算每一列的标准差与参考列的比值，其相似值T1的表达式为：T1=ColStdsrefStd，当满足T1=4并且T0大于或等于0.4时，则判断此列为坏列； 在步骤四中，如果imgMean=350，对于图像每一列，其相似值T1的表达式如下：T1=ColStdsrefStd，其中ColStds为图像每一列的标准差，当T1大于或等于5时，则判断此列为坏列； 步骤五：遍历图像的所有列，按照步骤四计算出所有列与参考列的相似值。

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