柯泰光芯(常州)测试技术有限公司葛斌获国家专利权
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龙图腾网获悉柯泰光芯(常州)测试技术有限公司申请的专利一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121299403B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511851226.7，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法是由葛斌;蒋威;田铮设计研发完成，并于2025-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法，包括信号源、同步分路器、脉冲切换电路、测试仪以及N个驱动器，所述信号源提供精确脉冲信号，通过所述同步分路器分别给所述脉冲切换电路和所述测试仪分配两组同步的脉冲信号；本发明充分利用了纳秒测试的脉冲时间短、时序要求高的特点，通过多颗错位点亮的方式进行驱动，使用峰值测试的手段采集数据，从而实现共用仪器的同时，错位叠加测试时长，大幅提升测试速度的目的。
本发明授权一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法在权利要求书中公布了：1.一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法，其特征在于： 包括信号源1、同步分路器2、脉冲切换电路3、测试仪4以及N个驱动器5，所述信号源1提供精确脉冲信号，通过所述同步分路器2分别给所述脉冲切换电路3和所述测试仪4分配两组同步的脉冲信号； 基于所述脉冲切换电路3和所述测试仪4均被分配到两组同步的脉冲信号，分别通过通道控制和时序控制，对N个所述驱动器5进行多颗错位点亮和叠加测试，最终得到N个驱动器5分别点亮时的数据，实现UPH的显著提升； 所述脉冲切换电路3接收到的脉冲信号由信号调理电路整型后分别发送至高速分路芯片6和控制芯片7；所述控制芯片7将每个获取的脉冲信号作为独立的通道控制信号发送至所述高速分路芯片6中，控制对应的所述驱动器5触发。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人柯泰光芯(常州)测试技术有限公司，其通讯地址为：213000 江苏省常州市武进区常武中路18-2号常州科教城现代工业中心8号楼1层C102；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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