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龙图腾网获悉福建越华晖实业有限公司申请的专利液晶显示模组产线全流程质量溯源方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121258336B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511817289.0，技术领域涉及：G06Q10/0639；该发明授权液晶显示模组产线全流程质量溯源方法及系统是由罗同敏;林仲恩设计研发完成，并于2025-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本液晶显示模组产线全流程质量溯源方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供液晶显示模组产线全流程质量溯源方法及系统，涉及数据处理技术领域，所述方法包括：步骤1，采集多源异构数据，并将多源异构数据进行清洗和格式统一处理，建立产品序列号与各参数信息的关联关系，形成结构化全流程数据记录；步骤2，基于结构化的全流程数据记录，对核心制程参数集进行实时监控，当检测到任一参数超出预设规格范围时，将对应异常时段内生产的产品序列号标记为可疑品，并生成预警信号。本发明通过全流程数据结构化整合、实时监控预警、五边拓扑监测与多参数交互分析，建立工艺参数与显示不均、漏光缺陷的关联关系，高效推导工艺优化补偿量，实现液晶显示模组产线质量的准确溯源、缺陷风险防控与产品质量稳定性提升。

本发明授权液晶显示模组产线全流程质量溯源方法及系统在权利要求书中公布了：1.液晶显示模组产线全流程质量溯源方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤1，采集多源异构数据，并将多源异构数据进行清洗和格式统一处理，建立产品序列号与各参数信息的关联关系，形成结构化全流程数据记录； 步骤2，基于结构化的全流程数据记录，对核心制程参数集进行实时监控，当检测到任一参数超出预设规格范围时，将对应异常时段内生产的产品序列号标记为可疑品，并生成预警信号； 步骤3，基于可疑品及历史缺陷品中与显示不均缺陷和漏光缺陷的全流程数据记录，在芯片玻璃绑定工位配置第一工艺单元，在导光板组装工位配置第二工艺单元，在液晶灌注工位配置第三工艺单元，在偏光片贴附工位配置第四工艺单元，在背光模块安装工位配置第五工艺单元；其中，第一工艺单元对应芯片玻璃绑定温度、芯片玻璃绑定压力和芯片玻璃绑定时间，第二工艺单元对应环境温度参数和环境湿度参数，第三工艺单元对应盒厚参数和液晶量参数，第四工艺单元对应环境温度参数和环境湿度参数，第五工艺单元对应环境温度参数和环境湿度参数；将五个工艺单元的监测数据建立关联关系，构建五边拓扑监测结构，并根据实时监测数据，动态更新五边拓扑监测结构； 步骤4，基于五边拓扑监测结构采集的核心制程参数集数据，建立工艺参数变化与质量缺陷发生之间的对应关系，并基于五个工艺单元的监测数据的分布特征确定基准参数点，以建立基准参数状态； 步骤5，以基准参数点为起始位置，在参数空间中沿第一方向延伸构建第一工艺参数传导链路，沿第二方向延伸构建第二工艺参数传导链路，其中第一方向由芯片玻璃绑定温度、盒厚参数和液晶量参数的历史数据统计值确定，第二方向由芯片玻璃绑定压力、芯片玻璃绑定时间、环境温度参数和环境湿度参数的历史数据统计值确定；通过计算第一工艺参数传导链路的方向向量与第二工艺参数传导链路的方向向量之间的夹角，得到方位差异值；基于方位差异值，以基准参数点为中心，结合五个工艺单元的监测数据在参数空间中的最大分布距离，确定多参数交互作用域的边界范围，所述多参数交互作用域为以基准参数点为中心、以方位差异值为展开角度、以实时监测数据最大分布距离为半径的扇形区域； 步骤6，基于多参数交互作用域，分析五边拓扑监测结构中各工艺单元的监测数据，构建闭环反馈路径，并通过计算闭环反馈路径与多参数交互作用域的相交特征，提取核心制程参数集变化规律；根据变化规律推导工艺参数优化补偿量，以调整核心制程参数集。

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