温州开放大学黄恺获国家专利权
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龙图腾网获悉温州开放大学申请的专利一种半导体芯片自动化测试优化系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121049706B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511587585.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种半导体芯片自动化测试优化系统是由黄恺;周朝霞设计研发完成，并于2025-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体芯片自动化测试优化系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种半导体芯片自动化测试优化系统，属于测量电变量技术领域。包括采集模块，用于建立按时间顺序排列的电变量时间序列，漂移分析模块，用于基于按时间顺序排列的电变量时间序列计算短时波动幅度值、长期漂移斜率和高频噪声幅值，接触判别模块，用于基于短时波动幅度值、长期漂移斜率和第j个滑动窗口内的高频噪声幅值构建接触阻抗系数，并进行评估和优化，数据标记模块，用于对评估出接触不稳定的测试通道对应的电变量测量数据标记为低置信度。本系统可以对温度传感器芯片第i测试通道测试，更加精确，并同时计算短时波动幅度值、长期漂移斜率和高频噪声幅值，多源数据参与，提升测试准确性。
本发明授权一种半导体芯片自动化测试优化系统在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片自动化测试优化系统，其特征在于，包括采集模块、漂移分析模块、接触判别模块和数据标记模块； 所述采集模块，用于通过高精度模数转换芯片采集温度传感器芯片第i测试通道在多个时刻的接触阻抗数据和电变量原始测量数据，并建立按时间顺序排列的电变量时间序列； 漂移分析模块，用于基于按时间顺序排列的电变量时间序列计算短时波动幅度值、长期漂移斜率和第j个滑动窗口内的高频噪声幅值； 接触判别模块，用于基于短时波动幅度值、长期漂移斜率和第j个滑动窗口内的高频噪声幅值构建接触阻抗系数，并进行评估和优化； 数据标记模块，用于对评估出接触不稳定的测试通道对应的电变量测量数据标记为低置信度。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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