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龙图腾网获悉成都博视达科技有限公司申请的专利一种液晶面板缺陷检测方法、系统、电子设备及产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120912584B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511110368.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种液晶面板缺陷检测方法、系统、电子设备及产品是由闫大庆;母鑫;李晨;李强设计研发完成，并于2025-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种液晶面板缺陷检测方法、系统、电子设备及产品在说明书摘要公布了：本发明属于计算机视觉检测技术领域，其目的在于提供一种液晶面板缺陷检测方法、系统、电子设备及产品。其中的方法包括：获取样板液晶面板的RGB图像，并对所述RGB图像进行预处理，得到预处理后图像；将所述预处理后图像划分为多个子像素区域，并获取各子像素区域的模板参数；根据各子像素区域的模板参数构建缺陷检测模板；获取待测液晶面板的灰度图像，并基于所述缺陷检测模板对所述灰度图像进行缺陷检测，得到所述待测液晶面板的缺陷检测结果。本发明可提升液晶面板缺陷检测的速度与精度，检测效率更高。

本发明授权一种液晶面板缺陷检测方法、系统、电子设备及产品在权利要求书中公布了：1.一种液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取样板液晶面板的RGB图像，并对所述RGB图像进行预处理，得到预处理后图像； 将所述预处理后图像划分为多个子像素区域，并获取各子像素区域的模板参数； 根据各子像素区域的模板参数构建缺陷检测模板； 获取待测液晶面板的灰度图像，并基于所述缺陷检测模板对所述灰度图像进行缺陷检测，得到所述待测液晶面板的缺陷检测结果； 所述模板参数包括尺寸信息、位置信息、通道类型标识和色彩阈值；对应地，将所述预处理后图像划分为多个子像素区域，并获取各子像素区域的模板参数，包括： 将所述预处理后图像分离为单通道灰度图；其中，所述单通道灰度图分为R通道、G通道和B通道的灰度图； 对所述单通道灰度图进行自适应二值化处理，得到二值化图像； 对所述二值化图像进行连通区域分析处理，将得到的连通区域设定为子像素区域，并提取得到各子像素区域的尺寸信息、位置信息和通道类型标识； 对各子像素区域对应的RGB图像区域进行HSV空间直方图分析处理，得到各子像素区域的色彩阈值。

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