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龙图腾网获悉信阳星原智能科技有限公司申请的专利一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120703303B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510789300.0，技术领域涉及：G01N33/00；该发明授权一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法是由任卫民;杨勇;林贞珊;陈辉;白雨晴;张慧兰;郭义设计研发完成，并于2025-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法，涉及无损检测技术领域，将灰度点阵、多波长光谱点阵和波强点阵转换为灰度场、多波长光谱场和波强场；预处理灰度场并采用多尺度谱分析自编码器分析获取厚度波动图；采用稀疏非负矩阵分解拆解多波长光谱场并处理输入光谱分割模型以获取漏镀概率图；预处理波强场并输入位置自编码器，考虑位置偏差分析生成气泡概率图；采用贝叶斯置信估计算法，将上述概率图作为先验概率分布，基于工艺参数、漏镀、气泡和厚度波动的因果关联，结合历史数据中的联合条件概率分布，基于贝叶斯原理更新获取后验概率分布从而确定漏镀区域和气泡区域，实现考虑因果关联且利于溯源分析的无损检测。

本发明授权一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法在权利要求书中公布了：1.一种面向发热服饰的半导体镀膜无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 测量获取灰度点阵、多波长光谱点阵和波强点阵并通过测量位姿转换为灰度场、多波长光谱场和波强场； 预处理灰度场并输入多尺度谱分析自编码器，将多尺度卷积的拼接结果转换至频域进行加权求和并还原生成加权特征矩阵，将加权特征矩阵的反卷积结果与线性变换之和减去标准镀膜厚度生成厚度波动图； 将多波长光谱场经过稀疏非负矩阵分解得到的矩阵拼接输入光谱分割模型，将多次卷积与反卷积的输出反向拼接并通过逐点卷积聚合为漏镀概率图； 将预处理波强场生成的回波特征矩阵与基于波强场中每个点的索引编号生成的位置编码矩阵累和输入位置自编码器，通过引入位置偏差的自注意力机制和非线性变换进行编码并基于全连接层解码生成气泡概率图； 采用贝叶斯置信估计算法，将漏镀概率图和气泡概率图作为先验概率分布，统计本次的工艺参数和厚度波动图在历史数据中不同漏镀和气泡条件下的联合条件概率分布，基于贝叶斯联合概率公式进行联合因果推理并结合边缘概率公式更新获取后验概率分布从而确定漏镀区域和气泡区域。

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