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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120686165B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510759810.3，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置是由顾旭东;张俊杰;王市委;徐未;倪彬彬;吴宇峰;冯靖媛;叶晟喜;王庆山;胡孟尧设计研发完成，并于2025-06-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置，涉及低频波动探测和应用技术领域。该方法包括：在线圈骨架上绕制测试线圈，测量测试线圈的绕制长度并记录绕制匝数；将测试磁芯插入测试线圈的不同位置，并测量测试线圈在测试磁芯处于不同位置的电感；根据磁导率‑电感关系式计算测试磁芯处于不同位置的区域平均有效磁导率；基于预设算法拟合测试磁芯的有效磁导率分布函数；根据测试磁芯的有效磁导率分布函数得出待测棒型铁基纳米晶合金磁芯的有效磁导率分布函数。本发明能够降低磁芯有效磁导率测量误差，提高建模可靠性，并得到有效磁导率分布函数，从而减少重复实验，提升建模效率。

本发明授权一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法，其特征在于，包括： 在线圈骨架上绕制测试线圈，测量测试线圈的绕制长度并记录绕制匝数； 将测试磁芯插入所述测试线圈的不同位置，并测量所述测试线圈在所述测试磁芯处于不同位置的电感；所述测试磁芯为棒型铁基纳米晶合金磁芯； 根据磁导率-电感关系式计算所述测试磁芯处于不同位置的区域平均有效磁导率； 基于预设算法拟合测试磁芯的有效磁导率分布函数； 根据所述测试磁芯的有效磁导率分布函数得出待测棒型铁基纳米晶合金磁芯的有效磁导率分布函数；所述待测棒型铁基纳米晶合金磁芯与所述测试磁芯的横截面积相同、长度不同； 所述将测试磁芯插入所述测试线圈的不同位置，并测量所述测试线圈在所述测试磁芯处于不同位置的电感，包括： 将所述测试磁芯插入所述测试线圈后，利用四端接线法将所述测试线圈与阻抗分析仪相连接； 以测试磁芯轴向方向为横轴，测试磁芯的正中间为原点，建立坐标系； 将原点左边记为负值，原点右边记为正值，在区间内，从左到右等间隔逐渐移动测试线圈，测量每次移动后测试线圈的起始位置横坐标和电感，构成电感数据组{xn，Ln}，n=1,2,3,…,M，M为测量的次数，xn为第n次测量的测试线圈的起始位置横坐标，Ln为第n次测量的测试线圈的电感，lcore为测试磁芯长度； 所述磁导率-电感关系式为： 其中，为第n次测量下的区域平均有效磁导率，为真空磁导率，为测试线圈的绕制匝数，为测试磁芯横截面积，lcore为测试磁芯长度，为测试线圈的绕制长度； 所述区域平均有效磁导率的表达式为： 式中，为第n次测量下的区域平均有效磁导率，为测试磁芯的有效磁导率分布函数。

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