苏州苏纳光电有限公司孙文杰获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州苏纳光电有限公司申请的专利超表面结构及折射率探测器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119493197B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411627503.1，技术领域涉及：G02B5/00；该发明授权超表面结构及折射率探测器是由孙文杰;甘世涛;曾渊设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本超表面结构及折射率探测器在说明书摘要公布了：本发明公开了一种超表面结构及折射率探测器，超表面结构结构简单，仅包括基底以及设置在基底第一表面上的纳米柱阵列，通过对纳米柱阵列中各个纳米柱的方向角的限定，使得本发明的超表面结构能够通过读取焦平面上的焦点位置信息来得到空间折射率信息，用于折射率的探测。本发明的超表面结构，尺寸仅有几十微米大小，检测范围自由，其结果可以清晰明了地呈现在焦平面上，不需要配备复杂的光谱分析与计算模块，对折射率探测器的小型化发展具有重要借鉴意义。
本发明授权超表面结构及折射率探测器在权利要求书中公布了：1.一种超表面结构，其特征在于，包括： 基底，具有第一表面； 纳米柱阵列，形成在所述基底的第一表面上，所述纳米柱阵列由若干不同方向角的纳米柱排设而成； 以基底几何中心为原点，建立坐标系，所述纳米柱的方向角满足如下条件： 其中，θx,y表示超表面结构的每个纳米柱的方向角；x为不同纳米柱的x轴坐标，y为不同纳米柱的y轴坐标；λ为超表面结构的工作波长；N为焦点的个数；f为超表面结构的焦距；fDj为各个焦点到原点的距离；xj为不同焦点的x轴坐标，yj为不同焦点的y轴坐标；nj为每个焦点对应的空间折射率； 在左旋偏振光入射条件下，所述超表面结构可根据不同的空间折射率在其焦平面上形成位置不同的焦点； 所述超表面结构的焦平面上的不同焦点呈圆环形排列，每个焦点的横坐标xj=rsin[j-12πN]，每个焦点的纵坐标yj=-rcos[j-12πN]，其中，r为超表面结构的焦平面上所有焦点所围成的圆环的半径。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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