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龙图腾网获悉北京航天时代光电科技有限公司申请的专利一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119269033B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411439167.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法是由杨长望;于海成;柳建春;郑国康;张江远;邹辉;杜睿哲设计研发完成，并于2024-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法，测试系统包括第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、光纤反射镜、光谱分析仪、光功率计、消光比测试仪和电压表，待测光经第一光纤耦合器分光后进入光纤反射镜和第二光纤耦合器，第二光纤耦合器分别接入光谱分析仪、光功率计和消光比测试仪。集成光学器件通电后，依据光谱分析仪和消光比测试仪读数，可直接获得集成光学器件的光波长、光谱宽度和消光比值。另外，光纤反射镜将部分光返回，再经过第一光纤耦合器回到集成光学器件，依据电压表读数、光功率计读数、光纤耦合器的固有插入损耗值和光纤反射镜的固有回波损耗值，可计算得出集成光学器件的输出光功率值和光响应度值。

本发明授权一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法在权利要求书中公布了：1.一种光纤陀螺前光路用集成光学器件测试方法，其特征在于：采用组合测试系统进行检测，所述组合测试系统包括第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、光纤反射镜、光谱分析仪、光功率计、消光比测试仪和电压表，第一光纤耦合器一端连接待测试集成光学器件，另一端分别连接第二光纤耦合器和光纤反射镜；第二光纤耦合器一端连接第一光纤耦合器，另一端分别连接光谱分析仪、光功率计和消光比测试仪，待测试集成光学器件的电学输出引脚连接电压表，具体测试方法包括如下步骤： 1、集成光学器件通电后输出光信号进入第一光纤耦合器，部分光信号经第二光纤耦合器到达光谱分析仪、光功率计和消光比测试仪，其余光信号进入光纤反射镜，光纤反射镜将部分光返回，再经过第一光纤耦合器回到集成光学器件，记录光谱分析仪测得光波长λ与光谱宽度△λ、光功率计读数P、消光比测试仪读数PER和电压表读数U1，集成光学器件输出的光波长λDUT=λ，集成光学器件输出的光谱宽度△λDUT=△λ，集成光学器件消光比值PERDUT=PER； 2、根据所述步骤1测量结果计算集成光学器件的输出光功率值PDUT，计算公式如下： 其中：IL12为第一光纤耦合器连接集成光学器件端口到连接第二光纤耦合器端口的固有插入损耗值，IL46为第二光纤耦合器连接第一光纤耦合器端口到连接光功率计端口的固有插入损耗值； 3、根据步骤2得到的PDUT计算返回进集成光学器件的光功率值，计算公式如下： 其中：IL13为第一光纤耦合器从连接集成光学器件端口到连接光纤反射镜端口的固有插入损耗值，RL为光纤反射镜的固有回波损耗值； 4、断开集成光学器件尾纤与测试装置1端口的连接，并在集成光学器件尾纤末端作消除反射处理，记录电压表读数U0，根据步骤3光功率值计算集成光学器件的光响应度值Re，计算公式如下： 。

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