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龙图腾网获悉浙江华睿科技股份有限公司申请的专利缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116797550B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310602691.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质是由樊龙飞;黄虎;周璐;张博设计研发完成，并于2023-05-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质，该缺陷检测方法包括：获取待检测图像的初始缺陷区域中的若干个缺陷关键点；根据每个缺陷关键点对应的预设范围中像素点的特征信息，将每个缺陷关键点对应的预设范围中的像素点进行聚合处理，得到每个缺陷关键点对应的聚合区域；分别将每个缺陷关键点对应的聚合区域和每个缺陷关键点所在的初始缺陷区域进行合并处理，得到候选缺陷区域；根据各个候选缺陷区域的位置信息，对位置信息匹配的两候选缺陷区域进行拼接，得到缺陷检测结果。上述方案能够准确检测出待检测图像中的缺陷，提高了缺陷检测效率。

本发明授权缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待检测图像的初始缺陷区域中的若干个缺陷关键点； 对所述待检测图像进行特征检测，得到所述待检测图像的灰度信息和边缘信息；基于所述灰度信息和所述边缘信息构建所述待检测图像的自注意热力图，所述自注意热力图包含所述待检测图像中各个像素点的热力值，所述热力值用于表征所述待检测图像中各个像素点的受关注度； 根据每个缺陷关键点对应的预设范围中像素点的特征信息，将所述每个缺陷关键点对应的预设范围中的像素点进行聚合处理，得到每个缺陷关键点对应的聚合区域；所述像素点的特征信息包括所述灰度信息和所述热力值； 所述根据每个缺陷关键点对应的预设范围中像素点的特征信息，将所述每个缺陷关键点对应的预设范围中的像素点进行聚合处理，得到每个缺陷关键点对应的聚合区域的步骤，包括：根据所述每个缺陷关键点的灰度信息和热力值，对所述每个缺陷关键点对应的预设范围内的像素点进行筛选，得到筛选后的像素点；将所述每个缺陷关键点对应的预设范围内筛选后的像素点进行聚合，得到所述每个缺陷关键点对应的聚合区域； 分别将所述每个缺陷关键点对应的聚合区域和每个缺陷关键点所在的初始缺陷区域进行合并处理，得到候选缺陷区域； 根据各个候选缺陷区域的位置信息，对所述位置信息匹配的两候选缺陷区域进行拼接，得到缺陷检测结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江华睿科技股份有限公司，其通讯地址为：310051 浙江省杭州市滨江区长河街道长河路590号1幢4层401室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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