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龙图腾网获悉重庆市科之拓视觉科技有限公司申请的专利一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116030019B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310047190.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质是由彭定明;梁为民;刘国义设计研发完成，并于2023-01-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质，包括：获取待检测的镭射膜图像；对镭射膜图像进行条纹分割处理，确定镭射膜图像中的明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域；按预设检测策略分别对明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域进行瑕疵检测，得到各个区域的瑕疵检测结果，预设检测策略用于确定各个区域对应的瑕疵检测方式；根据各个区域的瑕疵检测结果，标记并展示镭射膜图像的瑕疵区域。通过对具有明暗相间条纹的镭射膜图像进行条纹分割，针对不同的条纹区域分别进行针对性的瑕疵检测，可消除不均匀光照对图像的影响且保留了原始图像的特征信息，降低了瑕疵检测的误判或漏判，有效提高了镭射膜瑕疵检测的准确性。

本发明授权一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种镭射膜瑕疵检测方法，其特征在于，包括： 获取待检测的镭射膜图像； 对所述镭射膜图像进行条纹分割处理，确定所述镭射膜图像中的明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域； 按预设检测策略分别对所述明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域进行瑕疵检测，得到各个区域的瑕疵检测结果，所述预设检测策略用于确定各个区域对应的瑕疵检测方式； 根据各个区域的瑕疵检测结果，标记并展示所述镭射膜图像的瑕疵区域； 所述按预设检测策略分别对所述明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域进行瑕疵检测，得到各个区域的瑕疵检测结果，包括： 对所述明条纹区域进行形态学底帽变换处理，根据变换得到的第一差值图像获取所述明条纹区域的瑕疵检测结果； 对所述暗条纹区域进行形态学顶帽变换处理，根据变换得到的第二差值图像获取所述暗条纹区域的瑕疵检测结果； 对所述条纹过渡区域进行局部阈值分割处理，提取得到所述条纹过渡区域的瑕疵检测结果； 所述对所述条纹过渡区域进行局部阈值分割处理，提取得到所述条纹过渡区域的瑕疵检测结果，包括： 通过预先创建的结构元对所述条纹过渡区域进行遍历检测； 每次遍历检测时均计算当前结构元内像素的平均灰度值和标准差； 根据所述平均灰度值和标准值计算得到局部分割阈值； 根据所述局部分割阈值对当前结构元内的像素进行瑕疵提取，得到当前结构元内的暗瑕疵和或亮瑕疵； 具体的局部分割阈值为vx,y,s＝maxgain×dx,y,s,th，其中s代表局部掩膜计算的结构元，dx,y,s为结构元s中像素灰度值的标准差，gain为缩放参数，th为噪声灵敏度值。

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