上海集成电路研发中心有限公司阎品杉获国家专利权
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龙图腾网获悉上海集成电路研发中心有限公司申请的专利一种黑体响应率测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115790864B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211594789.9，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权一种黑体响应率测试装置及方法是由阎品杉;钟晓兰设计研发完成，并于2022-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种黑体响应率测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种黑体响应率测试装置及方法，通过信号输入模块向待测单元和参考单元分别提供相同的测试信号；通过光源处理模块将黑体模块发射的第一光线转化为所需波段的第二光线，并将第二光线均分为两束，分别射向待测单元和参考单元；通过信号分析及计算模块分别测量待测单元的第一输出信号电压和参考单元的第二输出信号电压，并根据已知的待测单元的第一标称面积和参考单元的第二标称面积，以及参考单元的第二黑体响应率，计算得到待测单元的第一黑体响应率，能消除黑体发射的光线在传输过程中的损耗，以及理论计算与实际测量之间误差，提高了测量准确性。
本发明授权一种黑体响应率测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种黑体响应率测试装置，其特征在于，包括： 信号输入模块，黑体模块，光源处理模块，被测模块，和信号分析及计算模块； 所述被测模块包括待测单元和参考单元，所述信号输入模块用于向所述待测单元和所述参考单元分别提供相同的测试信号，所述光源处理模块用于将所述黑体模块发射的第一光线转化为所需波段的第二光线，并将所述第二光线均分为两束，分别射向所述待测单元和所述参考单元以被同时接收； 所述信号分析及计算模块用于分别测量所述待测单元的第一输出信号电压和所述参考单元的第二输出信号电压，并根据已知的所述待测单元的第一标称面积和所述参考单元的第二标称面积，以及所述参考单元的第二黑体响应率，计算得到所述待测单元的第一黑体响应率； 还包括：电源模块；所述电源模块包括第一电源单元和第二电源单元，分别用于向所述待测单元和所述参考单元提供相同的偏置电压信号。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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