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龙图腾网获悉闽都创新实验室;福州市福大微纳显示科技有限公司申请的专利LED芯片电致发光高速检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115629289B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211134343.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权LED芯片电致发光高速检测系统是由吴朝兴;苏昊;郭太良;陈荣;张永爱;周雄图设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本LED芯片电致发光高速检测系统在说明书摘要公布了：本发明提出一种LED芯片电致发光高速检测系统，核心组件为履带状导电模块，履带状导电模块由两个完全一致的带齿圈柱状主动轮和一个宽度与主动轮的高度相等的能与主动轮啮合的柔性导电链环构成，履带状导电模块平置于待测LED芯片阵列表面，履带状导电模块的主动轮圆柱轴与待测LED芯片阵列平行，使履带状导电模块与待测LED芯片阵列以最大接触面积接触，在检测过程中，履带状导电模块的柔性导电链环能大面积接触待测LED芯片阵列，使多个LED芯片产生电致发光现象，无需频繁地进行垂直方向的移动，可以有效提高检测效率。

本发明授权LED芯片电致发光高速检测系统在权利要求书中公布了：1.一种LED芯片电致发光高速检测系统，其特征在于： 设置供电模块并通过履带状导电模块在待测LED芯片阵列与第一导电层之间施加电压； 所述履带状导电模块由多个带齿圈柱状主动轮和一个与主动轮啮合的柔性导电链环构成；所述履带状导电模块的曲面覆盖有功能层，用于传输载流子或使与履带状导电模块接触的LED芯片中产生感应电荷；所述供电模块在第一导电层和履带状导电模块之间施加的电信号为交变电压； 在检测过程中，履带状导电模块平置于待测LED芯片阵列表面，主动轮圆柱轴与待测LED芯片阵列平行，使履带状导电模块与待测LED芯片阵列以最大接触面积接触；所述柔性导电链环以最大接触面积接触待测LED芯片阵列时，同时使多个LED芯片产生电致发光现象； 系统包括：第一基底、设置于第一基底的第一导电层、履带状导电模块、电控位移模块、光信号测量模块、电信号测量模块、供电模块； 所述第一基底用于放置待测LED芯片阵列； 所述电控位移模块用于驱动履带状导电模块移动； 所述光信号测量模块用于采集待测LED芯片的包括亮度、光通量的发光信息； 所述电信号测量模块用于采集待测LED芯片的包括电流、电压的电信息； 其LED芯片阵列电致发光高速检测步骤如下： 步骤S1：将待测LED芯片阵列放置于所述第一基底表面； 步骤S2：所述履带状导电模块在电控位移模块的驱动下，接触待测LED芯片阵列，以最大接触面积接触直接接触待测LED芯片阵列上任意成一个平面分布的多颗LED； 步骤S3：所述供电模块在第一导电层和履带状导电模块之间施加电信号使与履带状导电模块的最大接触面接触的多个LED产生电致发光现象，光信号测量模块记录所检测LED芯片的发光信息，电信号测量模块记录所检测LED芯片的电信号； 步骤S4：通过所述电控位移模块使履带状导电模块沿垂直于履带状导电模块的主动轮圆柱轴方向相对于LED芯片阵列产生滚动并保持与待测LED芯片阵列持续接触，使履带状导电模块的圆柱轴对准步骤S2中已完成测试的平面状LED芯片阵列邻近的另一呈平面状分布的LED芯片阵列，光信号测量模块记录所检测LED芯片的发光信息，电信号测量模块记录所检测LED芯片的电信号； 步骤S5：重复步骤S3和步骤S4直至沿垂直于所述履带状导电模块的主动轮圆柱轴方向滚动的平面上的所有LED芯片检测完毕； 步骤S6：所述电控位移模块驱动履带状导电模块，使履带状导电模块移动至待测LED芯片阵列表面另一未检测区域； 步骤S7：重复步骤S5和步骤S6直至所述LED芯片阵列表面的全部LED芯片检测完毕。

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