中国电子科技集团公司第二十九研究所杨启伦获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第二十九研究所申请的专利一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115598584B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211140550.4，技术领域涉及：G01S3/02；该发明授权一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质是由杨启伦;沈路;杜冶;张续莹;李延飞;左园设计研发完成，并于2022-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质，其中评估方法包括：利用测向的方位和基线长度进行理论相位差的反向计算，然后基于各个基线的真实测量相位差与理论相位差的差值，通过信噪比和天线基线设计时的最大相位差容差计算门限值，再通过所述差值与门限值的关系获得各个基线的测向结果质量评估，最后对各个基线的测向结果质量评估数据通过相乘进行结果融合，从而得到最终的干涉仪测向结果质量评估。测向结果质量评估数据可用于评估出干涉仪测向结果是否可信，从而防止设备由于测向错误而导致性能下降的问题。
本发明授权一种干涉仪测向结果质量评估方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种干涉仪测向结果质量评估方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.利用测向的方位和基线长度进行理论相位差的反向计算； S2.基于各个基线的真实测量相位差与理论相位差的差值，通过信噪比和天线基线设计时的最大相位差容差计算门限值，再通过所述差值与门限值的关系获得各个基线的测向结果质量评估； S3.对各个基线的测向结果质量评估数据通过相乘进行结果融合，得到最终的干涉仪测向结果质量评估； 步骤S1中，理论相位差的反向计算公式为： 其中，为第n个天线的基线长度，为信号载频，为测向结果，c为光速。
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