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龙图腾网获悉浜松光子学株式会社申请的专利光学测定装置及光学测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115380204B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180026081.0，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权光学测定装置及光学测定方法是由岩田直树;近藤房宣;松村朋和;竹下照雄设计研发完成，并于2021-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学测定装置及光学测定方法在说明书摘要公布了：光学测定装置具备照射光学系统、检测光学系统、及消除电路，在荧光检测处理中，以试样为照射对象，对试样照射照射光，将包含自被照射了照射光的试样产生的荧光、及来自被照射了照射光的试样的散射光的测定对象光作为检测光予以检测，考虑预先处理中的校准处理的实施结果，自与测定对象光对应的测定信号去除与散射光对应的信号成分；在预先处理中，基于信号量大于测定信号中的与散射光对应的信号的校准信号，实施用于自测定信号去除与散射光对应的信号成分的校准处理。

本发明授权光学测定装置及光学测定方法在权利要求书中公布了：1.一种光学测定装置，其中， 是对测定对象物的光学特性进行测定的光学测定装置， 具备： 照射光学系统，其对照射对象照射与调制信号对应的照射光； 光检测部，其检测因所述照射光引起的检测光；及 信号处理部， 实施荧光检测处理、及先于该荧光检测处理而实施的预先处理； 在所述荧光检测处理中， 所述照射光学系统以所述测定对象物为所述照射对象，对所述测定对象物照射所述照射光， 所述光检测部将包含自被照射了所述照射光的所述测定对象物产生的荧光、及来自被照射了所述照射光的所述测定对象物的散射光的测定对象光作为所述检测光予以检测， 所述信号处理部基于所述荧光和所述散射光中的相位差，自与所述测定对象光对应的测定信号，去除与所述预先处理中的校准处理中的所述散射光对应的信号成分； 在所述预先处理中， 所述信号处理部基于校准信号，实施用于自所述测定信号去除与所述散射光对应的信号成分的所述校准处理，该校准信号为在所述光检测部中检测的所述照射光或所述照射光的散射光所涉及的信号，且信号量大于所述测定信号中的与所述散射光对应的信号，并且根据相当于直至自所述照射光学系统照射的所述照射光的散射光作为所述检测光由所述光检测部检测为止的延迟而使所述调制信号的相位变化并产生所述校准信号。

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