贺利氏石英玻璃有限两合公司M·施米特获国家专利权
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龙图腾网获悉贺利氏石英玻璃有限两合公司申请的专利用于确定圆柱形光学对象的折射率分布的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115362364B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180026247.9,技术领域涉及:G01N21/41;该发明授权用于确定圆柱形光学对象的折射率分布的方法是由M·施米特设计研发完成,并于2021-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于确定圆柱形光学对象的折射率分布的方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种用于确定光学对象22的折射率分布的方法,所述光学对象具有圆柱形表面26和圆柱纵向轴线25,所述方法包括以下方法步骤:a借助于垂直于所述圆柱纵向轴线25入射的光束21在多个扫描位置23处扫描所述对象22的所述圆柱形表面26;b借助于光学检测器7;8捕获在所述光学对象22中偏转的所述光束21的位置相关的强度分布;c从所捕获的强度分布确定每个扫描位置23的零阶束的偏转角,包括从所述强度分布消除高阶束的束强度,从而获得所述零阶束的偏转角分布,以及d基于所述偏转角分布来计算所述对象22的所述折射率分布,其中方法步骤a和b用具有至少两个不同波长的光束来执行,并且为了消除高阶束的束强度,将所述不同波长的所述强度分布的同一位置强度彼此进行数学处理,更具体地彼此相乘和或相加。
本发明授权用于确定圆柱形光学对象的折射率分布的方法在权利要求书中公布了:1.一种用于确定光学对象22的折射率分布的方法,所述光学对象具有圆柱形表面26和圆柱纵向轴线25,所述方法包括以下方法步骤: a借助于垂直于所述圆柱纵向轴线25入射的光束21在多个扫描位置23处扫描所述对象22的所述圆柱形表面26, b借助于光学检测器捕获在所述光学对象22中偏转的所述光束21的第一强度分布40a和至少一个另外的第二强度分布40b,其中所述第一强度分布40a和所述第二强度分布40b是位置相关的; c根据所述第一强度分布40a和所述第二强度分布40b确定每个扫描位置23的零阶束I0的偏转角,包括从所述第一强度分布40a和所述第二强度分布40b消除高阶束I1,I2的束强度,以便获得所述零阶束I0的偏转角分布,以及 d基于所述偏转角分布来计算所述对象22的所述折射率分布, 其特征在于,方法步骤a和b各自用不同波长λ1,λ2的光束来执行,其中获得具有第一波长λ1的第一光束的所述第一强度分布40a和具有第二波长λ2的第二光束的至少一个另外的第二强度分布40b,并且其中高阶束I1,I2的束强度的所述消除包括在同一扫描位置23处的所述第一强度分布40a的束强度和所述第二强度分布40b的束强度的比较;及 为了根据步骤a扫描所述圆柱形表面26,具有不同发射波长λ1,λ2的激光二极管2a,2b经由Y-纤维束3连接到束输入部件4,并且所述光束21借助于抛物面镜5聚焦; 其中,为了消除高阶束I1,I2的束强度,将所述第一强度分布40a和所述第二强度分布40b的同一位置强度彼此进行数学处理,且其中所述数学处理所述第一强度分布40a和所述第二强度分布40b的所述同一位置强度的至少一次乘法和或至少一次加法。
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