三星电子株式会社张诚益获国家专利权
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龙图腾网获悉三星电子株式会社申请的专利存储器设备及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113496751B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110081015.5，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权存储器设备及其测试方法是由张诚益;金基贤;安守珍;李忠基;韩东局设计研发完成，并于2021-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器设备及其测试方法在说明书摘要公布了：一种存储器设备，包括：响应于来自多个存储体的并行测试信号感测数据位的多个感测放大器电路；将来自多个感测放大器电路的每一个的数据位与测试位进行比较的多个比较器；以及逻辑电路，该逻辑电路接收多个比较器的输出信号并输出测试结果，其中多个比较器中的每一个接收测试位、演进的并行位测试PBT信号、至少一个测试忽略信号和测试通过信号，并且响应于演进的并行位测试PBT信号、至少一个逻辑状态测试设置信号和测试通过信号来比较数据位和测试位，并且响应于测试通过信号通过相应的存储体，而不管测试操作如何。
本发明授权存储器设备及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器设备，包括： 多个感测放大器电路，被配置为响应于来自多个存储体的并行测试信号感测数据位； 多个比较器，被配置为将来自所述多个感测放大器电路中的每一个的数据位与测试位进行比较；以及 逻辑电路，被配置为接收所述多个比较器的输出信号并输出测试结果， 其中，所述多个比较器中的每一个接收所述测试位、演进的并行位测试信号ePBT、至少一个逻辑状态测试设置信号和测试通过信号，响应于所述演进的并行位测试信号、所述至少一个逻辑状态测试设置信号和所述测试通过信号比较所述数据位和所述测试位，并且响应于针对所述多个存储体中的至少一个预定存储体提供的所述测试通过信号而通过相应的存储体，而不管测试操作如何。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人三星电子株式会社，其通讯地址为：韩国京畿道；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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