深圳凯智通微电子技术有限公司陈家锋获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳凯智通微电子技术有限公司申请的专利高频测试插头端子和ddr的测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223956874U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520411699.4，技术领域涉及：H01R13/02；该实用新型高频测试插头端子和ddr的测试装置是由陈家锋;金左锋设计研发完成，并于2025-03-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本高频测试插头端子和ddr的测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种高频测试插头端子和ddr的测试装置，涉及内存测试的技术领域，其中，高频测试插头端子包括第一抵接段、第二抵接段以及安装段，所述第一抵接段与电路模组抵接，所述第二抵接段连接于所述第一抵接段，所述第二抵接段用于与电路板抵接，所述安装段连接于所述第二抵接段背离所述第一抵接段的一端，所述安装段安装于所述限位槽内，所述第一抵接段和所述第二抵接段沿所述壳体厚度方向的高度之和为h11，所述第二抵接段和所述安装段沿所述壳体厚度方向的高度之和为h22，h22＜13h11；本实用新型提供的技术方案降低了高频测试插头端子的天线效应，提高了高频测试插头端子的高频效果。
本实用新型高频测试插头端子和ddr的测试装置在权利要求书中公布了：1.一种高频测试插头端子，其特征在于，包括： 第一抵接段，所述第一抵接段与电路模组抵接； 第二抵接段，所述第二抵接段连接于所述第一抵接段，所述第二抵接段用于与电路板抵接；以及 安装段，所述安装段连接于所述第二抵接段背离所述第一抵接段的一端，所述安装段安装于限位槽内，所述第一抵接段和所述第二抵接段沿壳体厚度方向的高度之和为h1，所述第二抵接段和所述安装段沿壳体厚度方向的高度之和为h2，h2＜13h1。
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