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上海壁仞科技股份有限公司请求不公布姓名获国家专利权

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龙图腾网获悉上海壁仞科技股份有限公司申请的专利张量内存访问验证方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121210231B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511769988.2,技术领域涉及:G06F11/263;该发明授权张量内存访问验证方法、装置、电子设备和存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成,并于2025-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

张量内存访问验证方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供一种张量内存访问验证方法、装置、电子设备和存储介质,涉及芯片设计制造技术领域,包括:随机生成测试参数;基于测试参数,控制第一处理器中的张量内存访问单元执行实际数据搬运操作,得到源数据存放在第一处理器关联的第二存储器中的实际结果;基于测试参数,控制第二处理器执行行为级模拟,得到源数据从第一存储器搬运至第二存储器的预期结果;比较实际结果与预期结果,确定张量内存访问单元在测试参数下的功能正确性。本申请提供的方法和装置,能够自动化地对张量内存访问单元进行全面和高效的功能正确性验证,解决了相关技术中的验证方法覆盖率不足、针对性不强的技术问题,显著提升了张量内存访问单元的验证效率和质量。

本发明授权张量内存访问验证方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种张量内存访问验证方法,其特征在于,包括: 随机生成测试参数,所述测试参数包括用于定义源数据在第一处理器关联的第一存储器中布局的张量描述符,以及用于定义数据搬运规则的指令修饰符; 基于所述测试参数,控制所述第一处理器中的张量内存访问单元执行实际数据搬运操作,得到所述源数据存放在所述第一处理器关联的第二存储器中的实际结果; 基于所述测试参数,控制第二处理器执行行为级模拟,得到所述源数据从所述第一存储器搬运至所述第二存储器的预期结果; 比较所述实际结果与所述预期结果,确定所述张量内存访问单元在所述测试参数下的功能正确性。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海壁仞科技股份有限公司,其通讯地址为:201114 上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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