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龙图腾网获悉常熟精元电脑有限公司申请的专利一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121033031B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511553877.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法是由黄华;潘嘉豪;袁晶设计研发完成，并于2025-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法，该方法获取待检测键盘及键帽的初始图像和灰度图像；根据灰度图像中像素点的灰度差异，在灰度图像中获取疑似缺陷区域；针对任一疑似缺陷区域，根据初始图像中对应区域的像素点的颜色特征，以及任一疑似缺陷区域的像素点的分布特征和纹理特征，获取任一疑似缺陷区域中每一像素点的缺陷系数；利用灰度图像中每一像素点的缺陷系数，获取每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重；根据每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重，利用Retinex算法，获取增强图像，提高键盘及键帽生产的材质缺陷检测的准确性。

本发明授权一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法，其特征在于，所述一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法包括： 获取待检测键盘及键帽的初始图像和灰度图像； 根据所述灰度图像中像素点的灰度差异，获取所述灰度图像中每一像素点的缺陷程度，根据所述灰度图像中每一像素点的缺陷程度，在所述灰度图像中获取至少一个疑似缺陷区域； 针对任一疑似缺陷区域，根据所述初始图像中对应区域的像素点的颜色特征，以及所述任一疑似缺陷区域的像素点的分布特征和纹理特征，获取所述任一疑似缺陷区域中每一像素点的缺陷系数，设置所述灰度图像的非疑似缺陷区域中每一像素点的缺陷系数为0； 获取所述灰度图像中每一像素点的缺陷系数，根据所述灰度图像中每一像素点的缺陷系数，获取每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重； 利用Retinex算法对所述灰度图像进行分解增强处理，得到大尺度增强图像和小尺度增强图像，将每一像素点的自适应大尺度权重和自适应小尺度权重，分别作为大尺度增强图像和小尺度增强图像中每一像素点的融合权重，对大尺度增强图像和小尺度增强图像进行加权融合，得到增强图像，用于对待检测键盘及键帽进行材质缺陷检测； 所述根据所述灰度图像中每一像素点的缺陷系数，获取每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重，包括： 针对所述灰度图像中任一像素点，获取预设大尺度权重和预设小尺度权重的相加结果，得到总权重，获取常数1与所述总权重的差值，得到权重系数，获取所述权重系数与所述任一像素点的缺陷系数的乘积，得到权重调整值，获取预设小尺度权重和所述权重调整值的相加结果，得到所述任一像素点的自适应小尺度权重；获取常数1与所述任一像素点的自适应小尺度权重的差值，得到所述任一像素点的自适应大尺度权重。

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