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龙图腾网获悉瑞彩科技股份有限公司申请的专利基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120952610B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511067331.1，技术领域涉及：G06Q10/0639；该发明授权基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理系统及方法是由吴昌梓;丁小平;吕鹏鹏;李军;张岩;柳明;宋卫国;曹安民;宋延林设计研发完成，并于2025-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及数据管理技术领域，尤其涉及一种基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理系统及方法。该方法包括以下步骤：获取珠光材料生产线的工艺原始数据集，并进行标准化处理，得到标准化工艺数据集；获取珠光材料的质量检测数据集；将标准化工艺数据集及质量检测数据集进行时间区间划分，并进行批次编号标记，得到工艺‑质量批次数据对；基于工艺‑质量批次数据对设计建模样本数据集，构建质量工艺耦合模型。本发明通过构建集数据集成、建模预测与调控优化于一体的闭环系统，全面实现珠光材料生产过程的智能化、数据驱动化与高质量稳定控制。

本发明授权基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于数据集成分析的珠光材料生产数据管理方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：获取珠光材料生产线的工艺原始数据集，并进行标准化处理，得到标准化工艺数据集；获取珠光材料的质量检测数据集；将标准化工艺数据集及质量检测数据集进行时间区间划分，并进行批次编号标记，得到工艺-质量批次数据对； 步骤S2：基于工艺-质量批次数据对设计建模样本数据集，构建质量工艺耦合模型；提取质量工艺耦合模型中的工艺控制与质量表征之间的映射关系，得到质量工艺耦合模型参数，其中质量表征指标包括表面光泽度、粒径分布均匀性及包覆层缺陷密度； 步骤S3：实时采集当前生产批次工艺参数，并基于质量工艺耦合模型参数进行工艺参数的质量指标预测分析，得到预测结果； 步骤S4：基于预测结果与预设质量控制标准进行偏差分析，基于偏差分析结果识别当前工艺运行中的异常参数，并制定工艺优化调节方案，得到动态工艺调整数据； 所述获取珠光材料的质量检测数据集包括：获取二氧化钛包覆珠光材料，在标准光源下采集表面反射图像，得到反射光强分布数据；根据反射光强分布数据进行包覆层边缘定位，提取包覆层过渡区梯度，生成包覆层轮廓数据；基于包覆层轮廓数据进行亚像素级分割，计算局部厚度矩阵，得到包覆层厚度分布热力图；基于包覆层厚度分布热力图计算有效包覆面积占比，得到包覆率数据；扫描二氧化钛包覆珠光材料的包覆层表面，构建镜面反射光强曲线，并计算珠光效应一致性数据；根据珠光效应一致性数据识别低反射区域，并结合包覆层轮廓数据定位缺陷边界，生成缺陷分布密度图；基于包覆率数据、缺陷分布密度及珠光效应一致性进行加权评分，输出质量检测数据集； 所述得到包覆层厚度分布热力图包括：基于包覆层轮廓数据识别二氧化钛包覆层与云母基片的界面过渡区，生成界面过渡曲线数据；根据界面过渡曲线数据计算各像素点的等效光学厚度，得到光学厚度分布矩阵；基于光学厚度分布矩阵求解局部包覆厚度，生成厚度梯度场数据；根据厚度梯度场数据补偿计算倾斜投影误差，校正得到真实厚度分布数据；基于真实厚度分布数据构建包含厚度-色度映射关系的三维热力图，得到包覆层厚度分布热力图。

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