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龙图腾网获悉苏州天禄光科技股份有限公司申请的专利一种导光板覆膜对齐检测方法、系统、设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120912608B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511438636.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种导光板覆膜对齐检测方法、系统、设备是由梅坦;李红军设计研发完成，并于2025-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种导光板覆膜对齐检测方法、系统、设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种导光板覆膜对齐检测方法、系统、设备，涉及导光板覆膜对齐检测技术领域，包括如下步骤：获取待覆膜的导光板的俯视图像，标记为导光板图；将导光板图进行灰度化处理获取导光板灰度图；将导光板灰度图进行二值化处理获取导光板二值化图；基于导光板二值化图获取导光板轮廓；基于导光板轮廓获取导光板参考点；基于导光板轮廓获取导光板参考值；获取覆膜的覆膜参考点与覆膜参考值；基于导光板参考点、导光板参考值、覆膜参考点以及覆膜参考值判断导光板与覆膜是否对齐，以及导光板与覆膜的对齐调整；本发明用于解决现有的导光板覆膜对齐检测技术中数据处理较多并且对齐流程相对复杂，导致导光板覆膜对齐检测的效率低的问题。

本发明授权一种导光板覆膜对齐检测方法、系统、设备在权利要求书中公布了：1.一种导光板覆膜对齐检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取待覆膜的导光板的俯视图像，标记为导光板图； 将导光板图进行灰度化处理获取导光板灰度图； 将导光板灰度图进行二值化处理获取导光板二值化图；基于导光板二值化图获取导光板轮廓； 基于导光板轮廓获取导光板参考点； 基于导光板轮廓获取导光板参考值； 获取覆膜的覆膜参考点与覆膜参考值； 基于导光板参考点、导光板参考值、覆膜参考点以及覆膜参考值判断导光板与覆膜是否对齐，以及导光板与覆膜的对齐调整； 基于导光板轮廓获取导光板参考点包括如下子步骤： 建立坐标系，标记为位置对照坐标系；使导光板轮廓在位置对照坐标系的第一象限中； 获取导光板轮廓的横坐标的最小值与最大值，分别标记为第一横坐标值与第二横坐标值； 获取导光板轮廓的纵坐标的最小值与最大值，分别标记为第一纵坐标值与第二纵坐标值； 将横坐标为第一横坐标值，纵坐标为第二纵坐标值的坐标点，标记为第一坐标点；将横坐标为第一横坐标值，纵坐标为第一纵坐标值的坐标点，标记为第二坐标点；将横坐标为第二横坐标值，纵坐标为第一纵坐标值的坐标点，标记为第三坐标点； 将第一坐标点与第二坐标点连接获得直线，标记为第一线段；将第二坐标点与第三坐标点连接获得直线，标记为第二线段； 过第一线段的中点，作第一线段的垂线，标记为第一垂线；过第二线段的中点，作第二线段的垂线，标记为第二垂线； 获取第一垂线与第二垂线的交点，标记为导光板参考点； 基于导光板轮廓获取导光板参考值包括如下子步骤： 以X轴为起始，距离间隔为第一距离，方向为Y轴的正方向，绘制出第一数量个平行于X轴的直线，标记为分割直线； 获取与导光板轮廓有交点的分割直线，标记为数据分析直线； 获取每个数据分析直线与导光板轮廓交点的横坐标的最小值与最大值，分别标记为第一交点值与第二交点值； 计算出第二交点值与第一交点值之间的差值，标记为宽度差值； 获取每个数据分析直线的宽度差值； 删除一个宽度差值的最小值与最大值，然后求取剩余宽度差值的均值，标记为导光板参考值； 获取覆膜的覆膜参考点与覆膜参考值包括如下子步骤： 使覆膜的环境背景为黑色，给覆膜进行打光，使覆膜亮度高于背景环境，然后获取待覆膜的俯视图像，标记为覆膜图； 将覆膜图看作导光板图然后获取导光板参考点与导光板参考值，分别标记为覆膜参考点与覆膜参考值。

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