北京卫星环境工程研究所任国华获国家专利权
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龙图腾网获悉北京卫星环境工程研究所申请的专利用于气液两相工质的漏率检测系统及漏率检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119618486B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411799020.X，技术领域涉及：G01M3/16；该发明授权用于气液两相工质的漏率检测系统及漏率检测方法是由任国华;张子罡;孙伟;郭琦;潘颖;郭崇武;周雪茜;闫荣鑫;孙立臣;史纪军;李文斌;孙立志;张海峰;齐飞飞设计研发完成，并于2024-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于气液两相工质的漏率检测系统及漏率检测方法在说明书摘要公布了：本申请涉及航天器泄漏检测技术领域，尤其涉及用于气液两相工质的漏率检测系统及漏率检测方法，所述漏率检测系统包括真空容器、气体传感器和控制装置，其中，气体传感器设置在真空容器内，气体传感器包括用于吸附待测产品泄漏气体并改变气体传感器的电阻值的气体敏感元件和用于采集通过气体传感器的电流值的检测元件；控制装置计算待测产品泄漏气体的漏率。本申请中漏率检测系统，通过气体传感器吸附待测产品泄漏气体，并计算待测产品泄漏气体的漏率，简化了漏率检测方法，弥补了实际工质检漏的精度和灵敏度的短板，实现了精准定量分析，降低了航天器研制阶段的成本，提高了气液两相工质检漏的效率和可靠性。
本发明授权用于气液两相工质的漏率检测系统及漏率检测方法在权利要求书中公布了：1.一种用于气液两相工质的漏率检测系统，其特征在于，包括： 真空容器，用于容纳待测产品； 气体传感器，设置在所述真空容器内，所述气体传感器包括用于吸附所述待测产品泄漏气体并改变所述气体传感器的电阻值的气体敏感元件和用于采集通过所述气体传感器的电流值的检测元件； 控制装置，用于基于采集得到的通过所述气体传感器的电流值计算所述待测产品泄漏气体的漏率； 所述气体敏感元件包括： 二维相变材料基底，所述二维相变材料表面具有刻蚀形成的狭缝，多个所述狭缝间隔排布，所述二维相变材料基底为由过渡金属硫化物形成的基底； 多个贵金属粒子条带，所述贵金属粒子条带为由贵金属粒子修饰到每个所述狭缝内形成的条带； 基于带隙尺寸、形状的可调控性和贵金属种类，使得在形成的所述气体敏感元件上的晶格空位允许特定的气体分子所占据。
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