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龙图腾网获悉中山大学申请的专利一种后向散射杂散光检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119414485B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411526133.2，技术领域涉及：G01V7/00；该发明授权一种后向散射杂散光检测装置及方法是由李资政;汪一萍;刘欣欣;罗振宁设计研发完成，并于2024-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种后向散射杂散光检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学测量领域，公开了一种后向散射杂散光检测装置及方法，所述装置中光源模块发出的光束经过光束处理模块处理后，分光平板将光束分为透射光束和反射光束。透射光束进入待测单元，产生后向散射杂散光，而反射光束则被光吸收模块吸收，防止其对测量结果产生干扰。此外，光束收集模块收集从待测单元返回的后向散射杂散光，并通过探测器模块进行检测。这种设计不仅减少了外杂光的影响，而且通过光吸收模块和光束收集模块的协同作用，提高了检测的灵敏度和准确性，能够将检测水平提高到10‑10‑10W量级，为引力波测量提供更精确的数据，提升了引力波探测的精度和可靠性。

本发明授权一种后向散射杂散光检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种后向散射杂散光检测装置，其特征在于，包括： 光源模块1，用于发出光束； 光束处理模块2，用于对光源模块1所发出的光束进行整形、准直和或扩束处理； 分光平板3，用于将光束处理模块2处理后的光束分为透射光束和反射光束； 待测单元4，设置在所述分光平板3的透射光路上，用于接收透射光束并产生后向散射杂散光； 光吸收模块5，设置在所述分光平板3的反射光路上，用于吸收反射光束； 光束收集模块6，设置在所述分光平板3与探测器模块7之间，用于收集从待测单元4返回并经分光平板3反射的后向散射杂散光；所述光束收集模块6包括一个透镜和一个光阑；所述透镜安装在所述分光平板3的反射光路上，其焦点位于探测器模块7的探测器表面；所述光阑设置在透镜和探测器模块7之间的光路上，用于消除沿此光路传播的其他杂散光； 探测器模块7，与所述光束收集模块6连接，用于接收并检测所述光束收集模块6收集的后向散射杂散光； 其中，所述分光平板3与所述待测单元4之间的反射光路，以及所述分光平板3与所述光束收集模块6之间的反射光路，通过一个连通的遮光罩8连通；所述分光平板3为一个直径为25mm、厚度为10.06mm的圆形平板，包括入射面和出射面；所述分光平板3的入射面镀有增透膜，出射面镀有半透半反射膜；所述分光平板3倾斜设置，使光束在光束入射面上以50°的角度入射；所述分光平板3的入射面和出射面均开设有通光孔径，所述通光孔径为长轴为7.78mm、短轴为5mm的椭圆孔径，所述分光平板3在除通光孔径之外的区域均涂有黑色涂层； 所述光源模块1、光束处理模块2、分光平板3、光吸收模块5、光束收集模块6和探测器模块7均设置在一个黑箱中，且所述黑箱的内壁涂有黑漆。

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