华南师范大学陈心满获国家专利权
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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119395508B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411588483.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统是由陈心满;钟智坚;李俊辉设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体芯片技术领域，公开了一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统，该系统包括：PC端、半导体器件阵列和控制模块，PC端和半导体器件阵列分别与控制模块相连；控制模块包括采集单元、选通阵列单元、阻抗调整单元、测试单元；采集单元用于采集半导体器件信号，并根据半导体器件信号确定选通模式；选通阵列单元用于根据选通模式确定切换速度和导通电阻；阻抗调整单元用于调整通路阻值至目标阻值；测试单元用于对半导体器件阵列的待测器件施加激励，并控制采集单元采集待测试器件的响应信号。本发明显著提升了测试的效率和精度。
本发明授权一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统在权利要求书中公布了：1.一种自适应条件的半导体芯片阵列测试系统，其特征在于，包括： PC端、半导体器件阵列和控制模块，所述PC端和半导体器件阵列分别与所述控制模块相连；所述控制模块包括采集单元、选通阵列单元、阻抗调整单元、测试单元； 所述采集单元用于采集半导体器件信号，并根据所述半导体器件信号确定选通模式； 所述选通阵列单元用于根据所述选通模式确定切换速度和导通电阻； 所述阻抗调整单元用于调整通路阻值至目标阻值； 所述测试单元用于对所述半导体器件阵列的待测器件施加激励，并控制所述采集单元采集所述待测试器件的响应信号。
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