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龙图腾网获悉成都数之联科技股份有限公司申请的专利一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117076960B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311031487.5，技术领域涉及：G06F18/23；该发明授权一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-08-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述方法包括步骤为：获取面板的表征数据，所述表征数据包括面板表面所有缺陷点的坐标信息；采用基于密度的聚类算法对面板的表征数据进行聚类划分处理，以得到若干聚类区域；对若干聚类区域进行区域合并处理，以得到至少一个合并区域；基于聚类区域和合并区域对面板缺陷点进行综合检测，以得到缺陷点聚集检测结果。本发明将基于密度的聚类算法运用到工业面板缺陷检测中，并且通过引入簇间缺陷点合并调整以及簇内缺陷点总数量阈值判断的方式，能够更加直观地考虑缺陷点聚集性情况，提高缺陷点聚集性检测的准确性和可靠性。

本发明授权一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种面板缺陷点聚集检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 获取面板的表征数据，所述表征数据包括面板上所有缺陷点的坐标信息； 采用基于密度的聚类算法对面板的表征数据进行聚类划分处理，以得到若干聚类区域； 采用基于密度的聚类算法对面板的表征数据进行聚类划分处理，以得到若干聚类区域的流程如下： 基于预设的邻域半径和最小邻域点数对所有缺陷点进行邻域筛选处理，以得到若干核心对象； 基于密度可达和密度相连的原则，采用递归的方式对核心对象邻域半径内的所有缺陷点进行聚类划分，以得到若干聚类区域； 对若干聚类区域进行区域合并处理，以得到至少一个合并区域； 基于聚类区域和合并区域对面板缺陷点进行综合检测，以得到缺陷点聚集检测结果； 基于聚类区域和合并区域对面板缺陷点进行综合检测，以得到缺陷点聚集检测结果的流程如下： 基于聚类区域对面板的缺陷点进行初次聚集检测，即基于缺陷点的坐标信息获取聚类区域的缺陷点数量； 如果存在至少一个聚类区域的缺陷点数量不小于预设的数量阈值，则判定面板存在缺陷点聚集情况，反之，则基于缺陷点的坐标信息获取合并区域的缺陷点数量，并且基于合并区域对面板的缺陷点进行再次聚集检测，即如果存在至少一个合并区域的缺陷点数量不小于预设的数量阈值，则判定面板存在缺陷点聚集情况，反之，则判定面板不存在缺陷点聚集情况。

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