湖北工业大学陶青获国家专利权
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龙图腾网获悉湖北工业大学申请的专利光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116429283B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310122532.1，技术领域涉及：G01K11/32；该发明授权光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法是由陶青;吴晨辰;匡文祥;刘顿;陈列;杨奇彪;娄德元;成健设计研发完成，并于2023-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法。该光纤F‑P腔由单模光纤刻蚀制备而成。所述光纤F‑P腔最优深度为H＝73.3μm；所述光纤F‑P腔最优长度L＝46.3μm；所述光纤F‑P腔端面倾斜角度θ＜1.3°。当光纤F‑P腔温度传感器的温度发生改变时，会导致光纤F‑P腔形貌发生变化，从而导致光谱信号发生偏移。通过确定光谱偏移与温度变化的实际关系，并将其转换为温度与波长偏移的线性关系，形成光纤F‑P腔温度传感器。本申请具有良好的光学性能、稳定性和体积小等优点，能够用于强电磁辐射、易燃易爆等场合下的高精度温度测量。
本发明授权光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法在权利要求书中公布了：1.一种温度测试方法，其特征在于，采用温度测试系统实施，所述温度测试系统包括加热平台、光纤调制解调器、处理器以及光纤温度传感器； 其中，所述光纤温度传感器具有光纤F-P腔，所述光纤F-P腔为在单模光纤上刻蚀的凹腔，所述加热平台用以对所述光纤F-P腔进行加热，所述光纤调制解调器通过单模光纤光电连接所述光纤F-P腔，所述光纤调制解调器连接所述处理器； 所述温度测试方法实施的过程包括以下步骤： 步骤1：测得所述光纤F-P腔的长度L、深度H、端面倾斜角度； 步骤2：通过所述加热平台对所述光纤F-P腔进行加热； 步骤3：将所述光纤F-P腔通过光纤适配器连接到所述光纤调制解调器上； 步骤4：用所述光纤调制解调器测量反射的干涉光功率，并通过所述处理器对数据进行采集、算法优化分析并保存； 步骤5：随着温度升高，干涉光谱往长波方向偏移，通过确定光谱偏移与温度变化的实际关系，并将其转换为温度与波长偏移的线性关系，形成光纤F-P腔温度传感器。
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