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龙图腾网获悉上海联影医疗科技股份有限公司申请的专利图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115908200B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211740934.X，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质是由张忠良;傅建伟设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质，该硬化伪影校正方法包括：获取待校正的能谱投影数据，根据扫描偏心放置的标准水模得到的能谱投影原始数据，确定能谱CT系统的探测器通道在不同能量区间的有效能谱值；根据待校正的能谱投影数据和有效能谱值，计算矫正补偿量；基于矫正补偿量对所述待校正的能谱投影数据进行校正。本发明有效地去除CT设备对物体进行扫描时，因扫描物体中存在高原子序数材料而导致的硬化伪影现象；避免了采用高阶硬化伪影校正方法需涉及图像分割和正反投影造成计算量大、准确率低的问题；减小了硬化伪影校正的计算量，提高了硬化伪影校正的准确率。

本发明授权图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种图像的硬化伪影校正方法，其特征在于，所述硬化伪影校正方法包括： 获取待校正的能谱投影数据； 根据扫描偏心放置的标准水模得到的能谱投影原始数据，确定能谱CT系统的探测器通道在不同能量区间的有效能谱值； 根据所述待校正的能谱投影数据和所述有效能谱值，计算矫正补偿量； 基于所述矫正补偿量对所述待校正的能谱投影数据进行校正； 所述根据所述待校正的能谱投影数据和所述有效能谱值，计算矫正补偿量的步骤，包括： 根据所述待校正的能谱投影数据确定基物质的密度的线积分数据； 根据所述有效能谱值、所述线积分数据和每种所述基物质的线性衰减系数计算所述矫正补偿量； 所述根据所述待校正的能谱投影数据确定基物质的密度的线积分数据的步骤，包括： 确定基物质的数量和能量区间的数量；所述能量区间的数量大于所述基物质的数量；当能量范围的上限值和下限值确定后，将能量范围划分成预设数量的所述能量区间； 根据所述基物质的数量、所述能量区间的数量和所述待校正的投影数据计算所述线积分数据。

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