芯启源(上海)半导体科技有限公司张旭获国家专利权
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龙图腾网获悉芯启源(上海)半导体科技有限公司申请的专利芯片设计测试方法、系统、介质、设备及FPGA原型验证平台获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115343605B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210760167.2,技术领域涉及:G06F30/33;该发明授权芯片设计测试方法、系统、介质、设备及FPGA原型验证平台是由张旭;卢笙;韩朝辉;谢水源设计研发完成,并于2022-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片设计测试方法、系统、介质、设备及FPGA原型验证平台在说明书摘要公布了:本发明提供一种芯片设计测试方法、系统、介质、设备及FPGA原型验证平台;所述FPGA原型验证平台包括至少两个验证块;每一所述验证块包括控制FPGA和测试FPGA;所述控制FPGA与所述测试FPGA连接,用于控制所述测试FPGA对芯片的设计进行测试;本发明通过对该FPGA原型验证平台的资源进行分割,能够同时给多个用户同时提供设计验证环境,从而有效避免了该FPGA原型验证平台的资源浪费,同时提高了客户的验证效率,及降低成本。
本发明授权芯片设计测试方法、系统、介质、设备及FPGA原型验证平台在权利要求书中公布了:1.一种FPGA原型验证平台,其特征在于,包括:至少两个验证块;每一所述验证块包括控制FPGA和测试FPGA; 所述控制FPGA与所述测试FPGA连接,用于控制所述测试FPGA对芯片的设计进行测试; 所述FPGA原型验证平台还包括:至少一分控FPGA;至少两个所述验证块连接形成多板FPGA;一所述多板FPGA对应一所述分控FPGA;所述分控FPGA与所述多板FPGA连接,形成验证单元;所述验证单元的数量至少为二; 所述FPGA原型验证平台还包括:总控FPGA;所述总控FPGA与所述验证单元连接。
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