上海西井信息科技有限公司谭黎敏获国家专利权
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龙图腾网获悉上海西井信息科技有限公司申请的专利芯片验证方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114139475B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111486430.5,技术领域涉及:G06F30/33;该发明授权芯片验证方法、系统、设备及存储介质是由谭黎敏;李明慧;宋捷设计研发完成,并于2021-12-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片验证方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供了一种芯片验证方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:根据模型配置参数,生成激励数据;建立软件参考模型以及仿硬件参考模型;将所述激励数据分别输入所述软件参考模型以及所述仿硬件参考模型,并获取软件参考输出以及仿硬件参考输出;响应于所述软件参考输出与所述仿硬件参考输出的比对,确定所述仿硬件参考模型是否通过参考模型评估;根据所述激励数据,执行仿真验证,获取仿真输出;响应于所述仿硬件参考模型通过参考模型评估,比对所述仿硬件参考输出和所述仿真输出,得到芯片验证结果。本发明应用于神经网络模型推理芯片的仿真和验证,提高验证效率。
本发明授权芯片验证方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片验证方法,其特征在于,包括如下步骤: 根据模型配置参数,生成激励数据包括:生成第一激励数据和第二激励数据,其中,所述第一激励数据基于已训练的模型生成,所述第二激励数据基于随机函数生成; 建立软件参考模型以及仿硬件参考模型,所述软件参考模型、仿硬件参考模型以及仿真验证皆使用所述第二激励数据,所述第一激励数据用于所述芯片的软件开发性能验证;根据所述激励数据进行模型的参数配置,并根据所述参数配置进行数据编译,以用以执行所述芯片的软件开发; 将所述激励数据分别输入所述软件参考模型以及所述仿硬件参考模型,获取所述软件参考模型的软件中间层输出和仿硬件参考模型的仿硬件中间层输出;获取所述软件中间层输出和所述仿硬件中间层输出的中间输出差异;获取所述软件参考模型的软件性能参数以及所述仿硬件参考模型的仿硬件性能参数;获取所述软件性能参数以及所述仿硬件性能参数的性能差异;根据所述中间输出差异以及所述性能差异的函数关系,以定位到对性能差异影响最大的中间层,判断所述仿硬件参考模型的中间层是否通过参考模型评估,当软件参考模型的整体输出与所述仿硬件参考模型的整体输出的差异值大于设定阈值范围时,所述仿硬件参考模型未通过参考评估;当软件参考模型的整体输出与所述仿硬件参考模型的整体输出的差异值落入设定阈值范围时,所述仿硬件参考模型通过参考评估; 根据所述激励数据,执行现场可编程门阵列原型仿真验证,获取现场可编程门阵列原型仿真输出; 响应于所述仿硬件参考模型通过参考模型评估,比对所述仿硬件参考输出和所述仿真输出,得到芯片验证结果。
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