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龙图腾网获悉安图实验仪器(郑州)有限公司申请的专利用于生长缓慢细菌识别的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114038497B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111403267.1，技术领域涉及：G16B5/00；该发明授权用于生长缓慢细菌识别的方法是由侯剑平;王超;刘玉凤;付坤明;刘聪设计研发完成，并于2021-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于生长缓慢细菌识别的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于生长缓慢细菌识别的方法，包括定时采集样本中的细菌生长数据；识别和处理细菌生长数据中跳跃点；对有效细菌生长数据进行拟合，获得拟合函数；通过对拟合函数中常数c和常数b，拟合优度、对数期点个数和平台期点个数，以及下凸值的判断，针对细菌生长缓慢的样本进行样本阳性判断。该方法显著提高阳性检出率，有效降低了样本前期增加较快导致的假阳性问题。

本发明授权用于生长缓慢细菌识别的方法在权利要求书中公布了：1.一种用于生长缓慢细菌识别的方法,其特征在于：包括以下步骤： S1,定时采集样本中的细菌生长数据； S2,舍弃样本中开始阶段所述细菌生长数据连续下降的细菌生长数据，并识别和处理细菌生长数据中跳跃点，生成有效细菌生长数据； 所述识别和处理所述细菌生长数据中所述跳跃点，包括以下步骤： S2.1,计算每个采样时间的一阶差分；所述一阶差分是指连续两个所述采样时间上，后一次采样时间上细菌生长数据与前一次采样时间上细菌生长数据的差值； S2.2,计算每个采样时间上的一阶差分滑动均值；所述一阶差分滑动均值是指连续多个一阶差分的算术平均值； S2.3,找出跳跃点；跳跃点是指当前采样时间上的一阶差分绝对值连续大于当前采样时间之前，预设步长内，每个一阶差分滑动均值与预设倍数的乘积； S2.4,跳跃点及跳跃点之后采集到的细菌生长数据减去跳跃值，加上前一个一阶差分滑动均值，即生成所述有效细菌生长数据；所述跳跃值为跳跃点的一阶差分绝对值； S3,判断所述有效细菌生长数据的数量是否满足预设的最小值；当满足所述预设的最小值，则执行S4步，否则终止识别； S4,对有效细菌生长数据进行滑动取数拟合，获得拟合函数； 具体为：S4.1,第一次执行时，对全部所述有效细菌生长数据进行数据拟合，获得所述拟合函数； S4.2,之后每次执行时，在前一次参与拟合的有效细菌生长数据的基础上，舍弃采样时间在前，且与所述预设步长数量相等的有效细菌生长数据，将剩余的有效细菌生长数据进行数据拟合，获得拟合函数； 所述数据拟合包括L-M算法，牛顿法，拟牛顿法；拟合函数为，其中a,b,c,d,e,f,g为常数，x代表采样时间； S5,判断所述拟合函数中常数c是否小于检测阈值和常数b是否大于斜率阈值，当所述常数c小于所述检测阈值且所述常数b大于所述斜率阈值，执行S6步，否则执行S4步； S6,判断拟合优度R2是否大于第一阈值；当所述拟合优度R2大于所述第一阈值，执行S7步；否则执行S4步； S7,结合采集到的细菌生长数据，检查对数期点个数和平台期点个数，若所述对数期点个数满足第一对数期点数阈值，所述平台期点个数满足平台期点数阈值，执行S8步，否则执行S9步； S8,计算下凸值，并判断所述下凸值是否大于第一凹凸性阈值；当下凸值大于所述第一凹凸性阈值，显示样本为阳性；否则执行S9步；所述下凸值计算公式为：，其中取0.5，和为所述拟合函数起始所述采样时间与最后采样时间； S9,判断拟合优度R2是否大于第二阈值；当拟合优度R2大于所述第二阈值，执行S10步；否则执行S4步； S10,结合采集到的细菌生长数据，检查对数期点个数；若对数期点个数满足第二对数期点数阈值，执行S11步，否则执行S4步； S11,计算下凸值，并判断下凸值是否大于第二凹凸性阈值；当下凸值大于所述第二凹凸性阈值，显示样本为阳性；否则执行S4步。

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