成都态坦测试科技有限公司徐永刚获国家专利权
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龙图腾网获悉成都态坦测试科技有限公司申请的专利芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223940968U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202323279401.9，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统是由徐永刚;彭瑞;童炜;孙成思;何瀚;王灿设计研发完成，并于2023-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开一种芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统，其中，芯片测试座包括承载块，承载块的顶面设有凹槽，凹槽的两个相对的侧壁上分别设有一沿顶面延伸设置的条形孔，两条形孔正对；承载块的外壁上设有吹气孔和抽气孔，一条形孔与吹气孔连通，另一条形孔与抽气孔连通；凹槽底部设有至少一个供探针穿过的通孔，通孔位于两条形孔之间的区域的正下方。本实用新型技术方案，提高了芯片测试的良率，进而保证了芯片的产能。
本实用新型芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试座，其特征在于，包括承载块，所述承载块的顶面设有凹槽，所述凹槽的两个相对的侧壁上分别设有一沿所述顶面延伸设置的条形孔，两所述条形孔正对； 所述承载块的外壁上设有吹气孔和抽气孔，一所述条形孔与所述吹气孔连通，另一所述条形孔与所述抽气孔连通； 所述凹槽底部设有至少一个供探针穿过的通孔，所述通孔位于两所述条形孔之间的区域的正下方。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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