深圳市艾比森光电股份有限公司;惠州市艾比森光电有限公司李涛获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市艾比森光电股份有限公司;惠州市艾比森光电有限公司申请的专利SMT元件测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223940706U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520132206.3,技术领域涉及:G01N3/303;该实用新型SMT元件测试装置是由李涛;郑鹏;范小龙;毛苑苑;岳云;梁国忠;汪军;夏建平;季晨;王次平;丁崇彬设计研发完成,并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本SMT元件测试装置在说明书摘要公布了:本实用新型提供一种SMT元件测试装置,包括底座、设于底座上的支撑架及设于支撑架上的碰撞件和检测器。底座上设有用于安装固定待测试部件的承载位。碰撞件间隔位于承载位的正上方,碰撞件能够相对支撑架自由下落以碰撞待测试部件上的目标元件。检测器间隔位于碰撞件的正上方。检测器用于实时检测碰撞件速度信号及位移信号,并能根据速度信号和位移信号得到碰撞件的碰撞初始速度和碰撞结束速度。本申请利用碰撞件的自由下落碰撞目标元件,根据能量守恒定律,根据测得的碰撞初始速度V00、碰撞结束速度V11及已知的碰撞件重量m,以得出碰撞件所损失的能量,而得到目标元件所承受的碰撞能量。
本实用新型SMT元件测试装置在权利要求书中公布了:1.一种SMT元件测试装置,其特征在于,包括: 底座,其设有一承载位,所述承载位用于安装固定待测试部件; 支撑架,其设于所述底座上; 碰撞件,其布置于所述支撑架上,且所述碰撞件间隔布置于所述承载位的正上方,所述碰撞件能够相对所述支撑架自由下落,以碰撞所述待测试部件上的目标元件; 检测器,其设于所述支撑架上,所述检测器间隔布置于所述碰撞件的正上方;所述检测器用于实时检测所述碰撞件速度信号及位移信号,并用于根据所述速度信号和所述位移信号得到所述碰撞件的碰撞初始速度和碰撞结束速度。
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