格通智联技术(上海)有限公司薛园园获国家专利权
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龙图腾网获悉格通智联技术(上海)有限公司申请的专利测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121231990B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511803309.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质是由薛园园设计研发完成，并于2025-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质，该测量芯片延时的方法包括将至少两个相同的待测芯片依次通信连接，以形成供信号依次经各完整芯片传输的串行路径，每个待测芯片包括依次通信连接的多个功能模块；向位于串行路径首位的待测芯片输入测试信号，使测试信号沿串行路径依次经各待测芯片传输；监测每个待测芯片内部的信号传输状态，以识别每个待测芯片输出可识别信号的位置，并记录对应的时间点；计算任意两个待测芯片对应同一可识别信号的时间点之间的时间差Δt，根据时间差Δt和测试信号在时间差Δt内经过的待测芯片的数量M，计算测试信号在单个待测芯片中的延时为ΔtM‑1。
本发明授权测量芯片延时的方法、电子装置和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测量芯片延时的方法，其特征在于，包括： 将至少两个相同的待测芯片依次通信连接，以形成供信号依次经各完整芯片传输的串行路径，每个待测芯片包括依次通信连接的多个功能模块； 向位于串行路径首位的待测芯片输入测试信号，使所述测试信号沿所述串行路径依次经各待测芯片传输； 监测每个所述待测芯片内部的信号传输状态，以识别每个待测芯片输出可识别信号的位置，并记录对应的时间点；以及 计算任意两个待测芯片对应同一可识别信号的时间点之间的时间差Δt，根据所述时间差Δt和所述测试信号在所述时间差Δt内经过的待测芯片的数量M，计算所述测试信号在单个待测芯片中的延时为ΔtM-1。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人格通智联技术(上海)有限公司，其通讯地址为：201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区银冬路20弄3号16层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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