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龙图腾网获悉深圳市铁越电气有限公司申请的专利一种图像高光去除方法、系统、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121213406B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511746510.8，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权一种图像高光去除方法、系统、存储介质及程序产品是由张金圣;刘晨飞;刘润瑞;张曼设计研发完成，并于2025-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种图像高光去除方法、系统、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：一种图像高光去除方法、系统、存储介质及程序产品，涉及一般的图像数据处理或产生领域，该方法包括：接收输入图像，转换至亮度色度分离的色彩空间，识别高光像素区域，生成高光掩码；以高光掩码的边界为基准向外扩展，构建环形分析区域；计算像素梯度幅值和像素梯度方向，生成线性结构特征数据集；计算像素颜色均值和像素颜色标准差，生成异常区域特征数据集；基于线性结构特征数据集中的方向信息和异常区域特征数据集进行缺陷分布推理，生成结构先验指导图；根据结构先验指导图进行源补丁约束，处理高光像素区域，得到输出图像。实施本申请，能优化高光去除过程，保证图像中设备缺陷特征的完整性。

本发明授权一种图像高光去除方法、系统、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种图像高光去除方法，其特征在于，应用于图像处理系统，所述方法包括： 接收输入图像，将所述输入图像转换至亮度色度分离的色彩空间，在亮度通道上识别高于预设亮度阈值的高光像素区域，生成高光掩码； 以所述高光掩码的边界为基准向外扩展预设像素距离，构建环绕所述高光像素区域的环形分析区域； 在所述环形分析区域内计算像素梯度幅值和像素梯度方向，识别高梯度像素，生成线性结构特征数据集； 在所述环形分析区域内计算像素颜色均值和像素颜色标准差，识别颜色异常像素，生成异常区域特征数据集； 基于所述线性结构特征数据集中的方向信息和所述异常区域特征数据集进行缺陷分布推理，生成结构先验指导图； 对所述结构先验指导图进行形态学分析，确定所述高光像素区域的潜在缺陷类型为线状缺陷或面状缺陷，生成缺陷类型标签； 根据所述缺陷类型标签，从预设的修复模型库中选择相匹配的特化修复模型，并以所述特化修复模型作为图像修复算法； 根据所述结构先验指导图进行源补丁约束，采用基于样本块的图像修复算法处理所述高光像素区域，得到输出图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市铁越电气有限公司，其通讯地址为：518100 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁路441号龙岗天安数码创业园1号厂房B座8层B804；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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