东莞市睿晟电子有限公司张磊获国家专利权
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龙图腾网获悉东莞市睿晟电子有限公司申请的专利基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121165969B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511713749.5,技术领域涉及:G06F3/044;该发明授权基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法及系统是由张磊;闵阳清;张智勇设计研发完成,并于2025-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及电容耦合技术领域,具体为基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法及系统,包括以下步骤:通过采集电极阵列信号并分解计算误差筛选干扰信号对生成识别结果,基于识别结果划分网格归一化剔除信号生成分布图,采集玻璃背面信号排序分层标注生成层级图,提取强度变化计算方向筛选区域聚合生成分组图,获取投影坐标结合层级与聚合计算重心生成结构图。本发明中,通过频域分解筛选干扰信号对提升数据纯净度,通过介质层网格划分归一化剔除虚假信号,通过电荷响应分层标注增强触点区隔,通过强度梯度方向聚合保证边界清晰,通过空间投影计算重心提升定位精度,整体进行识别精度与抗干扰能力提升。
本发明授权基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法及系统在权利要求书中公布了:1.基于电容耦合优化的触控屏多点触控识别方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:采集透明电极阵列的原始电荷信号并进行频域分解,通过最小二乘法计算相邻电荷信号的电荷响应误差并拟合,筛选超过耦合干扰阈值的电荷信号对,生成耦合干扰识别结果; S2:基于所述耦合干扰识别结果获取触控屏介质层并划分网格,计算相邻采样点的电荷强度变化并进行归一化剔除电容耦合引发的电荷信号,生成去耦合电荷分布图; S3:采集玻璃背面与所述去耦合电荷分布图对应的电荷响应并进行排序,对电荷响应幅度单调递减的区域进行划分多层并附加分层标签,生成触点空间层级标注图; S4:基于所述触点空间层级标注图提取电荷强度变化,并计算电荷强度梯度的矢量方向,筛选超过梯度幅值阈值的触点区域进行分组聚合,生成触点方向分组图; S5:基于所述触点方向分组图获取多分组区域的空间投影坐标,结合触点空间层级标注图与对应触点聚合区域计算触控重心位置,生成多点触控识别结构图; S5的具体步骤为: S501:基于所述触点方向分组图获取多分组区域的边界点坐标,将边界点坐标按照分组方向进行展开映射,计算每个分组区域在二维空间下的投影位置,生成空间投影坐标; S502:调用所述空间投影坐标,结合所述触点空间层级标注图中记录的触点层级位置,将多触点区域的投影坐标与层级坐标进行加权,计算每个触点聚合区域的中心点位置,作为触控重心坐标; S503:根据所述触控重心坐标与对应的触点聚合区域,将多分组区域的重心坐标进行空间映射整合,生成多点触控识别结构图。
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