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龙图腾网获悉成都中嘉微视科技有限公司申请的专利一种多类型OLED面板的同步检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121033042B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511559819.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种多类型OLED面板的同步检测方法是由郭江;唐玉峰设计研发完成，并于2025-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多类型OLED面板的同步检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及面板同步检测技术领域，一种多类型OLED面板的同步检测方法，包括：确定玻璃基板及待检测类型OLED面板集，对玻璃基板进行网格划分，得到标准网格集，将排列玻璃基板传送至预构建的检测工位，得到待检测玻璃基板，对待检测玻璃基板进行全局拍摄，得到全局面板图像，对全局面板图像进行分割，得到分割面板图像集，获取面板图像特征组集，根据分割面板图像集及面板图像特征组集确认出面板信息参数集，基于面板信息参数集获取检测数据组集，根据检测数据组集获取精确缺陷坐标集，基于精确缺陷坐标集完成多类型OLED面板的同步检测。本发明可提高多类型OLED面板的检测效率和准确性。

本发明授权一种多类型OLED面板的同步检测方法在权利要求书中公布了：1.一种多类型OLED面板的同步检测方法，其特征在于，所述方法包括： 确定玻璃基板及待检测类型OLED面板集，根据待检测类型OLED面板集对玻璃基板进行网格划分，得到标准网格集，其中，待检测类型OLED面板集包括：多个不同种类的待检测类型OLED面板； 在标准网格集中，将待检测类型OLED面板集中每个待检测类型OLED面板进行平铺，得到排列玻璃基板，其中，排列玻璃基板中包含：排列类型OLED面板集； 接收多类型OLED面板同步检测指令，根据多类型OLED面板同步检测指令，利用预构建的传送装置将排列玻璃基板传送至预构建的检测工位，得到待检测玻璃基板； 对待检测玻璃基板进行全局拍摄，得到全局面板图像，对全局面板图像进行分割，得到分割面板图像集，其中，分割面板图像集包括：多个分割面板图像，且每个分割面板图像均包含一个排列类型OLED面板； 获取面板图像特征组集，根据分割面板图像集及面板图像特征组集确认出面板信息参数集； 其中，所述获取面板图像特征组集，包括： 确认出已知类型OLED面板集，对已知类型OLED面板集中每个已知类型OLED面板均执行如下操作： 收集已知类型OLED面板的面板图像集，其中，面板图像集包括：多个面板图像，且每个面板图像对应的光照条件及拍摄角度均不相同； 依次从面板图像集中提取面板图像，基于面板图像获取图像结构化数据及面板尺寸数据，基于图像结构化数据及面板尺寸数据获取面板图像特征； 汇总面板图像特征，得到面板图像特征组，其中，面板图像特征组包括多个面板图像特征，且面板图像特征与面板图像一一对应； 汇总面板图像特征组，得到已知类型OLED面板集对应的面板图像特征组集，其中，已知类型OLED面板与面板图像特征组一一对应； 其中，所述根据分割面板图像集及面板图像特征组集确认出面板信息参数集，包括： 从分割面板图像集中依次提取分割面板图像，并对所提取的分割面板图像均执行如下操作： 依次从面板图像特征组集中提取面板图像特征组，获取分割面板图像的关键特征组，根据关键特征组及面板图像特征组计算匹配相似度，汇总匹配相似度，得到匹配相似度集； 从匹配相似度集中确认出最大匹配相似度，根据最大匹配相似度确认出匹配面板图像特征组，根据匹配面板图像特征组确认出分割面板图像中排列类型OLED面板的面板种类； 根据面板种类对排列类型OLED面板进行标识，得到面板唯一标识符，根据分割面板图像及排列类型OLED面板获取面板物理坐标； 将面板种类、面板唯一标识符及面板物理坐标作为面板信息参数，汇总面板信息参数，得到分割面板图像集对应的面板信息参数集； 基于面板信息参数集获取检测数据组集，根据检测数据组集获取精确缺陷坐标集； 其中，所述基于面板信息参数集获取检测数据组集，包括： 对面板信息参数集进行种类分类，得到面板类型组集，其中，面板类型组集包括：多个面板类型组，且面板类型组包括一个或多个排列类型OLED面板； 获取面板缺陷检测模型集，其中，面板缺陷检测模型集包括：多个面板缺陷检测模型，且每个面板缺陷检测模型对应不同类型的面板； 依次从面板类型组集中提取面板类型组，根据面板类型组从分割面板图像集中确认出目标分割图像集，根据面板类型组从面板缺陷检测模型集中确认出目标面板缺陷检测模型； 利用目标面板缺陷检测模型对目标分割图像集进行同步检测，得到检测数据组，其中，检测数据组包括多个检测数据，且检测数据与目标分割图像一一对应； 汇总检测数据组，得到面板类型组集对应的检测数据组集； 其中，所述根据检测数据组集获取精确缺陷坐标集，包括： 从检测数据组集中获取面板缺陷数据集，其中，面板缺陷数据集包括：多个面板缺陷数据，面板缺陷数据包括：缺陷类型、缺陷数量、检测画面类型及初始缺陷坐标； 对面板缺陷数据集中每个面板缺陷数据均执行如下操作： 将预构建的十字光标与面板缺陷数据中的初始缺陷坐标进行对齐，得到定位光学相机，其中，定位光学相机包含十字光标； 利用定位光学相机对面板缺陷数据对应的排列类型OLED面板进行拍摄，得到当前区域图像； 对当前区域图像进行缺陷特征识别，得到缺陷中心坐标，计算缺陷中心坐标与初始缺陷坐标的横向偏移量及纵向偏移量； 根据横向偏移量、纵向偏移量及初始缺陷坐标计算出更新缺陷坐标，将所述十字光标与更新缺陷坐标进行对齐，得到十字光标坐标，对所述面板缺陷数据对应的排列类型OLED面板进行拍摄，得到更新缺陷中心坐标； 判断更新缺陷中心坐标是否等于十字光标坐标； 若更新缺陷中心坐标不等于十字光标坐标，则将更新缺陷中心坐标作为初始缺陷坐标，返回所述利用定位光学相机对面板缺陷数据对应的排列类型OLED面板进行拍摄的步骤，直至更新缺陷中心坐标等于十字光标坐标； 若更新缺陷中心坐标等于十字光标坐标，则将所述更新缺陷中心坐标作为精确缺陷坐标； 汇总精确缺陷坐标，得到精确缺陷坐标集； 基于精确缺陷坐标集完成多类型OLED面板的同步检测。

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