大连民族大学刘俊杰获国家专利权
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龙图腾网获悉大连民族大学申请的专利基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120997196B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511323420.8,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法是由刘俊杰;李柏雄;姚树欣;葛平淑;张涛设计研发完成,并于2025-09-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法在说明书摘要公布了:基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法,属于计算机视觉、光学检测与自动化测试领域,用于解决面结构光三维重建的PCB缺陷检测问题,要点是向待测PCB板投射相移码及互补格雷码光栅,获取所述待测PCB板的光强图像;根据光强图像获取三维点云以及阴影区域掩膜图;根据阴影区域掩膜图,将阴影区域对应的二维像素坐标转化为三维坐标点;使用插值拟合法在三维坐标点的坐标区域内补全三维点云;将PCB元件点云和PCB基板平面点云分离;将PCB元件点云与标准点云配准,计算给定距离阈值下PCB元件点云与标准点云的差异点,差异点数量不小于阈值数量,则元件缺陷。
本发明授权基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于面结构光三维重建的PCB缺陷检测方法,其特征在于,包括: 向待测PCB板投射相移码及互补格雷码光栅,获取所述待测PCB板的光强图像; 根据光强图像获取三维点云以及阴影区域掩膜图; 根据阴影区域掩膜图,将阴影区域对应的二维像素坐标转化为三维坐标点; 使用插值拟合法在三维坐标点的坐标区域内补全三维点云; 将PCB元件点云和PCB基板平面点云分离; 将PCB元件点云与标准点云配准,计算给定距离阈值下PCB元件点云与标准点云的差异点,差异点数量不小于阈值数量,则元件缺陷; 其中,将PCB元件点云与标准点云配准,其中,PCB元件点云为源点云,标准点云为目标点云;其中,配准方法包括: S1.在源点云中随机采样n个点,且采样点之间的距离大于设定的阈值; S2.通过最近邻方法搜索源点云中的各采样点,在目标点云中具有最相似FPFH特征的点,得到源点云中的各采样点在目标点云中的匹配点对集合; S3.根据匹配点对集合,计算初始刚体变换矩阵; S4,根据初始刚体变换矩阵,计算源点云中的点在目标点云中的配准点,计算配准误差; S5.若达到最大迭代次数,将配准误差最小的初始刚体变换矩阵作为,执行步骤S6; 否则,执行步骤S1-S4; S6.根据当前的初始刚体变换矩阵,计算源点云中的点变换后的点; S7.从目标点云中搜索距离变换后的点最近的点,建立点在目标点云中近邻点对集合; S8.根据点在目标点云中近邻点对集合,计算变换矩阵; S9.根据变换矩阵,计算源点云中的点在目标点云中的配准点,计算配准误差; S10.若配准误差低于误差阈值,则结束配准; 否则,若不收敛,使,执行步骤S6-S10; 若收敛,使最优变换矩阵,进行配准; 若达到最大迭代次数,使最优变换矩阵为配准误差最小的变换矩阵,进行配准。
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