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龙图腾网获悉苏州贝克微电子股份有限公司申请的专利一种内部信号可调的芯片修调测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120949012B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511477967.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种内部信号可调的芯片修调测试电路是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-10-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种内部信号可调的芯片修调测试电路在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种内部信号可调的芯片修调测试电路。本发明实施例提供的内部信号可调的芯片修调测试电路，设置测试模块选择电路和逻辑信号发生电路，通过其第一端接收到一个输入信号后，即可输出选择信号和修调信号控制相应测试模块工作，测试模块产生内部信号对修调熔丝进行处理，从而降低芯片修调测试电路的操作难度，简化芯片修调测试电路的操作流程。

本发明授权一种内部信号可调的芯片修调测试电路在权利要求书中公布了：1.一种内部信号可调的芯片修调测试电路，其特征在于，包括： 测试模块选择电路，其第一端接收输入信号，其第二端连接外部电源，其第三端接地，其多个第四端连接多个测试模块，其用于根据所述输入信号向多个测试模块中的相应测试模块输出高电平的选择信号； 逻辑信号发生电路，其第一端接收所述输入信号，其第二端连接外部电源，其第三端接地，其多个第四端连接多个测试模块，其用于根据所述输入信号向多个测试模块中的相应测试模块输出修调信号； 多个测试模块，用于当其中的相应测试模块接收到所述高电平的选择信号和所述修调信号时，产生内部信号对修调熔丝进行处理； 每个测试模块包括多个烧熔丝电路，所述逻辑信号发生电路包括第二电压产生电路，所述第二电压产生电路用于产生第二电压信号； 时间信号调节电路，其第一端接收输入信号，其第二端连接所述第二电压产生电路的第四端，其第三端接地，其第四端连接外部电源，其第五端连接所述第二电压产生电路的第五端，所述时间信号调节电路用于根据所述输入信号和第二电压信号产生修调信号持续高电平的时间信号，所述时间信号和芯片功率等级匹配； 每个测试模块还包括和每个烧熔丝电路对应连接的与门，当所述与门接收到所述高电平的选择信号、所述修调信号以及时间信号时，向对应连接的烧熔丝电路输出内部信号，以使所述烧熔丝电路对修调熔丝进行处理。

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