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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120629248B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510785365.8，技术领域涉及：G01N25/16；该发明授权一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置及方法是由李朝辉;尹云飞;刘勇;马臻;赵建科;孙熙函;秦冲设计研发完成，并于2025-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置及方法在说明书摘要公布了：本申请公开一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置及方法，包括双频激光器、分光镜、第一光纤耦合器、前置分光装置、后置分光装置、测量基准装置、第二光纤耦合器、采集卡及上位机；双频激光器发出正交线偏振光；前置分光装置输出光垂直入射至测量基准装置前表面并多次反射；后置输出光垂直入射至测量基准装置后表面并多次反射；反射光经前置分光装置和后置分光装置后，与参考信号共同入射至第二光纤耦合器；采集卡采集第二光纤耦合器的测量信号和第一光纤耦合器的参考信号，传输至上位机；上位机计算热膨胀量及线膨胀系数。本申请能够解决热膨胀量在空间上精度不足、基准准确度基线不精确、膨胀变化中的线性变化不可控的问题。

本发明授权一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于线膨胀系数测量的外差激光干涉测量装置，其特征在于，包括双频激光器1、分光镜2、第一光纤耦合器3、前置分光装置4、后置分光装置5、测量基准装置6、第二光纤耦合器7、采集卡8及上位机9； 所述双频激光器1发出两束频差1-10MHz的正交线偏振光，经分光镜2分光后，透射光入射至前置分光装置4，反射光入射至第一光纤耦合器3； 所述前置分光装置4对透射光进行偏振分光、光路反射及偏振调制后，输出光垂直入射至测量基准装置6前表面并多次反射； 所述后置分光装置5对反射光进行偏振分光、光路反射及偏振状态调制，输出光垂直入射至测量基准装置6后表面并多次反射； 反射光经前置分光装置4和后置分光装置5后，与第一光纤耦合器3的参考信号共同入射至第二光纤耦合器7； 所述采集卡8采集第二光纤耦合器7的测量信号和第一光纤耦合器3的参考信号，传输至上位机9； 所述上位机9用于计算热膨胀量及线膨胀系数； 所述前置分光装置4包括第一偏振分光棱镜401、第一直角棱镜402、第一四分之一波片403、第二直角棱镜404和第一斜面反射棱镜405； 所述第一偏振分光棱镜401对透射光进行偏振分光，透射的水平偏振光经第一控温腔602、后置分光装置5的第二偏振分光棱镜502透射和第三直角棱镜503反射后，返回前置分光装置4，经第一偏振分光棱镜401透射和第一直角棱镜402、第一四分之一波片403及测量基准装置6前表面多次反射，最终入射至第二光纤耦合器7； 反射的垂直偏振光经第一斜面反射棱镜405、后置分光装置5后，与测量基准装置6后表面多次反射，最终入射至第二光纤耦合器7； 所述测量基准装置6还包括第二测量基准镜603和第二控温腔604，所述第二测量基准镜603与第一测量基准镜601结构一致，用于作为标准腔镜进行空间位置对照干涉测量，通过第四四分之一波片406实现对第二测量基准镜603的四次往返反射，获取4倍多普勒频移信息。

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