深圳市美芯微半导体科技有限公司范贤辉获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市美芯微半导体科技有限公司申请的专利一种感应模组的测试方法、装置及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120489200B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510749435.4，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权一种感应模组的测试方法、装置及系统是由范贤辉;李拼;刘志雄设计研发完成，并于2025-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种感应模组的测试方法、装置及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及智能传感器测试技术领域，具体涉及一种感应模组的测试方法、装置及系统。本发明首先获取感应模组的测试数据；进一步获取每个测试点的信号衰减因子；进一步根据每种间隔距离的信号衰减因子的分布，获取每种间隔距离的信号衰减系数；进一步根据信号衰减系数与标准信号衰减系数的差异并结合检测成功率，获取每种间隔距离的测试灵敏度；最后获取感应模组的性能测试参数。本发明通过构建动态测试场景，量化分析感应模组在不同间隔距离下的信号衰减与测试表现，有效解决传统静态测试周期长、适应性差的问题，提升测试效率与结果准确性，保障感应模组性能评估全面可靠。
本发明授权一种感应模组的测试方法、装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种感应模组的测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取感应模组在每个预设测试条件下的测试数据；每个预设条件重复实验预设数量次，所述测试数据至少包括测试点的信号强度、检测成功率、响应时间和感应模组与测试点的间隔距离； 根据每个测试点的所述信号强度的衰减表现，结合对应的所述间隔距离，获取每个测试点的信号衰减因子；基于数据值对所述间隔距离进行分类，根据每种所述间隔距离的所述信号衰减因子的分布，获取每种所述间隔距离的信号衰减系数；根据每种所述间隔距离的所述信号衰减系数与所述感应模组的标准信号衰减系数的差异，结合整体的所述检测成功率，获取每种所述间隔距离的测试灵敏度； 基于所述测试灵敏度确定所述感应模组的最佳感应范围和感应区域边缘范围；根据所述感应区域边缘范围内所有所述间隔距离的响应时间和所述检测成功率，结合所述最佳感应范围的尺寸，获取所述感应模组的性能测试参数。
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